地学实验室及仪器扫盲（1）--离子探针实验室

实验设备 

名称：二次离子探针质谱仪（SIMS）

仪器描述：法国Cameca公司生产的IMS 1280是国际ZX型的二次离子质谱仪。仪器同时装备有气体双等离子体源和铯离子源两个离子源，而且不同离子源的切换非常方便；具有先进的离子透镜系统，具有较高的离子传输效率；在应用过程中，离子束直径可以降至数微米；采用大半径磁场与静电场分析器实现二次离子的双聚焦，实现高达40000的分辨率。

仪器主要配件：检测器有5个法拉第杯，5个电子倍增器，1个CCD。主要配件有恒温恒湿机，镀金仪，抛光机，超声清洗机，冷却循环水机。

仪器主要功能：IMS 1280型二次离子探针质谱仪具有高精度、高灵敏度、高分辨率和GX率的微区微量分析能力，。它具备优异的微区微量放射性同位素分析功能，广泛应用于含U矿物如锆石等的微区微量同位素年代学测定，已经成为地质年代学的最重要技术选择。它实现了低质量数同位素的微区分析，如O、C、N、S、H、B、Cl、Ti、Mg等，在地球科学、天体化学、生命科学中，有非常广泛的应用。它在获取同位素或微量元素的面分布图像，以及在分析样品垂向上的同位素和微量元素深度分布等方面，更是国际同行的ZJ选择，特别适合材料科学研究。
仪器详细信息：分析前需将样品镶嵌在树脂材料的标准靶上，并对其进行清洗、抛光、打磨、镀金或镀碳、拍摄透反射光照片或者阴极发光照片等前期准备工作。

实验室简介 


所属系统：地球物质成分与物质性质分析系统