涂层测厚仪使用方法和注意事项

涂镀层测厚仪测量数据的影响因素

1、薄涂层的测量准确度和厚度没有关系，是一个常数，厚涂层的测量准确度是一个近似恒定的分数和厚度的乘积。

2、基体磁性的变化会影响测量的数据，所以涂镀层测厚仪校准时要采用材质和试样基体相同的校准；采用待镀产品做基体进行仪器校准，以避免不相同的集体或局部热处理和冷加工影响测量数据。

3、涂镀层测厚仪在靠近试样边缘或内转角处的测量数据往往是不可靠的，这种效应可能从不连续处向前延续约20mm。

4、涂镀层测厚仪测量曲面时，数据随曲率半径的减小而明显。

5、涂镀层测厚仪探头和试样要保持清洁，因为外来的附着尘埃会影响测量的数据。

涂层测厚仪使用方法

●基体金属特性

对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

●基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。

●边缘效应

不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

●曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。