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涂层测厚仪的使用方法：
(1)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时，选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
(2)强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
(3)人为因素。这中情况经常会发生在新用户的身上。涂层 测厚仪 之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
(4) 在系统校准时没有选择合适的基体。基体zui小平面为7mm，zui小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
(5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
涂层测厚仪测量时注意事项如下：
1，基体金属特性：对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面 粗糙 度 ，应当与试件基体金属的磁性和表面 粗糙度 相似。
2，基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
3，边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
4，曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。
5，读数次数：通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
6，表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
7，磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作
8，测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直
