产品描述：
n MaXXi4X射线荧光分析测厚仪 德国CompactecoX-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。 MaXXi4：宽大的测试箱，精简的配置，同样为您尽可能节约成本，却能测量较大的工件。升级能力强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等使用。适用于汽车、五金、PCB等行业。 安全性能：通过德国PTB安全验证，符合德国安全法规标准。 可测元素范围：钛(Ti)–铀(U) 可测量厚度范围： 22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm 准直器：0.1mm0.3mm0.1mm×0.3mm。 可选四个组合：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm 50um,75um×200um,150um×300um,300um 特别订造 Compacteco只配0.3mm或0.5mm。 自动测量功能：编程测量，自定测量修正测量功能：底材修正，已知样品修正 综合性能：镀层分析定性分析定量分析镀液分析 镀层分析：可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品Pai的FP软件。 镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购 买标准药液。 定性定量分析：光谱表示，光谱比较，可定性分析20多种金属元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。 光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。 统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图，能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。
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n $n泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴，以的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”！
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n产品描述：
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n技术参数 $n1.测量箱有效内部尺寸： 包含测量门斜面部分的尺寸：宽 = 318mm;深 = 307mm; 高 = 29 至 86mm 仅包含完整高度部分的尺寸(高：86 mm):宽 = 318mm; 深 = 203mm 高 = 86mm 2.视准器:可编程的,电机控制的4个视准器尺寸:ø0.2mm ø0.6mm ø1mm ø2mm 3.探测器:Si-PIN-二极管; Peltier-冷却 (约 -30°C). 无须液氮冷却 4.能量分辨率:180 eV 5.元素范围:铝 (Z=13) to 铀 (Z=92) 6.测量距离修正方法:专利的DCM-方法 (Distance Controlled Measurement距离控制测量) 允许工件表面凹陷处的测量
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n主要特点$n1.针对欧盟的RoHS指令开发的有害物质测量设备。 2.完全电子制冷，无需要液态氮进行冷却，经济安全。 3.XAN拥有四个视准器可供选择，Z小的视准器面积为0.2mm。专门针对小样品的测量。 4.XDAL拥有四个视准器可供选择，Z小的视准器面积为0.1mm；该仪器为全自动的仪器，可以针对复杂样品中的有害物质，进行编程扫描测量。 5.利用镀层测厚的专业知识，可针对电镀层中的有害物质进行测量。 6.WY不需要标准片进行校准就可以直接进行测量的仪器。 7.可以在测量有害物质含量的同时显示样品的厚度。
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n仪器介绍
n尊敬的新老客户你们好！ 在地球环境日益恶化的今天，欧盟率先推出了相应的RoHS&WEEE指令以及ELV指令。RoHS指令中明确规定2006年7月1日起，在电气电子设备中限制使用某些有害物质——Pd,Hg,Cr6+,PBB, PBDE<1000ppm;Cd<100ppm。ZG信息产业部也出台的ZG版的RoHS——《电子信息产品污染FZ管理办法》。 这些指令规定中所涵盖的行业包括大小型家用电器、IT及通讯仪器、明用装置、照明器具、电动工具等，也就是说几乎所有的生产制造商都受到了制约。 针对这些指令，各生产厂家都需要在进货和出货的时候对产品进行有害物质的测量。菲希尔测试仪器有限公司利用50多年来在X射线测量仪器领域中的丰富经验，新开发了利用X射线对产品中有害物质进行无损检测的仪器——XAN-DPP。
n$n $n $n 技术参数：
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n $n泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴，以的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”！
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n产品描述：
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n技术参数 $n1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568； 2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件； 3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为135kg； 4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）160 mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门； 5.原始射线从上至下； 6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA； 7.原生电子过滤器：Ni和Be； 8.4个对焦平面用于凹槽，腔体的测量，并可达到90mm； 9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成： 0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形; 0.03x0.2mm(1x8mil)带槽； 在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ（取代组件Ⅰ）有以下组成： 0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.3mm(12mil)圆形; 0.05x0.3mm(2x12mil)带槽； 在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ（取代组件Ⅰ）有以下组成： 0.2mm(8mil);圆形; 0.05x0.05mm(2x2mil);0.025X0.025mm(2X2mils)方型；0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽； 注：当测量PC印板，电脑接插件，引线框架等小工件时，推荐使用视准器组件Ⅰ 10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用； 11.充氙气的比例计数器，频谱处理时，内部采用4096通道的ADC，对外显示为256通道； 12.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围： 型号XDVM®-T7.1：X=175mm（7.0〃）， Y=175mm（7.0〃） 型号XDVM®-T7： X=250mm（10.0〃）， Y=250mm（10.0〃） 13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆 14.工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易； 15.电机驱动及高度（Z-轴）可编程的X-射线头部（X-射线管，比例计数器及视准器组件）；Z-轴运行=145mm（5.9〞）； 16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率X40/X80，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示； 17.测量箱键盘适合于Z常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。
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n主要特点$nFISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括：2组可切换的各带4个视准器的视准器组，大的开槽的测量箱体确保工件放置简便，精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。 这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件，例如螺丝，连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量，并可自动的进行评估报告输出。
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n仪器介绍
n适用于Windows®2000的真Win32位程序带在线帮助功能； 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用； 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化； 画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；十字星瞄准并带度量网格，以及测试点尺寸指示； 测试工件的视频图像可用BMP文件形式保存； XYZ运行编程功能：随机单点，第1点、1点及等分的中间点，鼠标左键点选功能，鼠标右键的使用相当于操纵杆； 测量模式用于： 单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量） 能分析多达四种金属成分的合金并具分析金的K数的特殊功能。能分析含一到二种金属离子的电镀溶液； 频谱显示可自由选择颜色；并可同时显示前台和背景的频谱以便比较；频谱可储存和打印； 可使用定义的文件名进行应用文件的管理（应用文件包含应用名，数据表示方式，打印形式定义，输出模板设定及记事本）； 用户可定义的报告编辑器，并自动插入测试工件的显示图像，及一些小的图片，如公司标识，图表，数据排列，字体选择；可以WinWordTM形式保存； 单个的应用可连接至任意数量的应用文件（此种连接大大减少了所需要的校准及初始化步骤）； 使用条形码标签及可选的条形码读入键盘可自动选择应用； 可选择数据进行统计评估； 通过RS232串行口进行在线或离线的数据输出； 可通过RS232串行口或在网络环境下的指令文件进行远程控制； 可编程的应用项图标，用于快速应用项选择 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估 语言：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，中文及日文（需要特殊的Windows®版本）； 可自由定义“短目录”以锁住某些重要的系统功能；
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n $n泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴，以的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”！
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n产品描述：
n 二手美国VEECO XRF5000系列x-射线金属PCB镀层测厚仪$n1. 全视窗95直接执行可使用文书处理软件方便打印测量报告。
n2. 樣品對準系统可用滑鼠於显示屏上直接控制，非一般Pai子，只能局部控制.
n$n3. 可测量不同单/双金属镀层厚度 可测涂层厚度 可做电镀药夜金属含量分析
n4． 全自动马达驱动准器。
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n $n泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴，以的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”！
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n产品描述：
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n技术参数 $n1.Fischerscope X-RAY XULM-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法； 2.原始射线从下至上； 3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至的应用：50kV，40kV或30kV； 4.视准器组：圆直径为0.1/0.2；正方形0.05X0..05mm；长方形0.03X0.2mm 5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）480 mm×375 mm×580 mm，重量大约为45kg； 6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×460mm）带向上回转箱门； 7.手动X-Y工作台（平面板：360 mm宽×240 mm深），带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行， 8.试件查看用标准的彩色摄像机； 9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。
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n主要特点$nFISCHERSCOPE® XUL®设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点，尤其对于测量各种不同几何外形的小工件，或各种各样的线路板、引线框架以及电连接器的微小部位测量 。在绝大多数情况下，被测试工件的表面可直接放置于测量台上，这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是WY一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。 与WinFTM® V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合，XUL® 作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以地适应于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。 XULM使用了高能量的X射线管，即便是测量微小面积时也能有很强的X射线照射到被测样品上，以保证测量的精确度。
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n仪器介绍
n适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化 画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离） 图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 测量模式用于： 单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量） 能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量； 可编程的应用项图标，用于快速应用项选择 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估 报告生成，数据输出 语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 菜单中的某些选择项可授权使用
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n $n泰亚赛福作为众多知名品Pai的合作伙伴，以的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格”！
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