奉化电路在线测试仪 电路在线测试仪GT4040P特价批发

主要特点先进的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好；友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家；无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修；40路数字电路测试功能，备有TTL、CMOS及中大规模集成电路数据库；40路/2路（ASA）V/I曲线分析测试功能；电路板测试存储功能，被测板可与之比较；真正的总线动态隔离信号，使IC测试更加准确；全面电路网络表提取，使您方便画出相应原理图；全面存储器测试，方便您对存储器测试及在线读取；简单编程语言，使您自行扩充库成为现实；与进口同类仪器比较，性价比更优，操作更方便。主要测试功能数字IC功能测试 本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测试74系列、4000/4500逻辑IC、75系列接口IC等两千余种集成电路。将测试仪上的5V外供电源通过随机所带电源钩引到被测板，再把测试夹夹在被测IC上，输入其型号，测试仪就在微机的控制下，自动进行测试，并将结果显示出来。在这个过程中，测试仪首先检查是否对被测板正确供电，然后检查测试夹同被测IC是否接触良好。一切正常，再检查被测IC各管脚处于何种状态（比如电源，地、输入/输出等）以及哪些管脚短接在一起，据此求出相应的测试码，送到被测IC输入端，再从IC输出端取回对测试码的响应。将取回的实测响应和计算出的预期响应相比较，就能发现故障。（后驱动隔离技术：后驱动隔离技术由美国施伦伯杰公司的Factron在68年提出。早在这类在线维修测试仪出现之前，就在生产用大型针床式电路板测试仪上得到广泛应用。该技术利用了半导体器件允许瞬态过载的特性，向被测IC的前级输出灌进瞬间大电流，强迫其按测试需要由高变低或由低变高。达到被测IC输入在线施加测试码的目的。） 　快速测试 故障电路板上有许多中小规模IC，究竟哪些IC是有问题的，可利用"快速测试"迅速进行筛选。此功能仅给出IC是否通过测试的结果，不提供任何故障诊断信息。下一步用诊断测试对未通过测试的IC作进一步的检查。诊断测试 该测试不仅给出测试是否通过的信息，测试过程中的测试码波形、响应波形、各管脚的逻辑状态、测试前的管脚电平、管脚的连接关系以及器件图都能显示出来，供您查阅。比较预期响应和实际响应的不同，可进一步了解IC测试失败的原因。 图为74ls24的管脚电平和连接关系IC循环测试（Loop Test） 该功能专为检查因温升造成的故障而设。有的IC开机运行几分钟后，由于温升而失效，当停机后寻找故障时，温度降低功能又恢复正常。这种故障使维修人员深感头痛，"循环测试"功能有助于发现这种问题。 无型号IC识别 功能测试时必须键入被测IC的型号，但经常有IC型号不清楚或故意擦掉的情况，使得测试工作无法进行。本功能可迅速把无型号的IC的型号自动查出来显示在屏幕上。但这种查找必须是器件库内有的，并且功能必须完好。离线测试 上述几种测试功能均可在随机的离线测试器上进行。并且结果更准确。可用器件筛选，或对在线测试有问题的器件做进一步的确认。数字IC状态测试 路板上每个数字器件，在加电后都有3种状态特征：各管脚的逻辑状态（电源、地、高阻、信号等）、管脚之间的连接关系、输入输出逻辑关系。当器件损坏后，其状态特征一般都要发生变化。测试仪能够把好的电路板上各IC的状态特征提取出来，存入微机的数据库中，然后与同类有故障的电路板进行比较，从而可相当准确的找到故障器件。这类学习的板越多，日后的工作越方便。 这种测试方法不仅适用于器件库中已有的IC，也适用于库中没有的IC。是检测各种专用器件、PAL、GAL、EPLD等可编程器件以及大规模集成电路强有力的手段。VI曲线分析测试 本测试功能建立于模拟特征分析技术之上。可应用于模拟、数字，各种专用器件、可编程器件以及大规模、超大规模器件。 使用测试仪进行此项测试十分简单。只需用探棒点到好板子上的元件管脚上，或者用测试夹夹在器件上，测试仪就能自动把该结点的特征曲线提取出来，显示在计算机屏幕上，存入计算机中。通过同样简单的操作，可以将库中的曲线和新测到的曲线在屏幕上同时显示出来。比较两者之差异就能发现故障。 曲线在计算机中是以电路板为单位存放的。一个板一个文件，板上所有结点的曲线都放在该文件中，没有容量限制。允许用软盘拷贝出来。 该项测试一般要求在被测板不加电的情况下进行检测（只是注意板子上的电压不能高于扫描电压），这在很多情况下有助于进一步确认故障。 逻辑器件管脚节点处含有R、C、L元件，或者是模拟集成电路的故障，用"IV曲线分析"方法是很有效的。 "VI曲线"反映了节点处的阻抗特性，实际电路中的曲线形状是多样的，我们要熟悉典型元件的曲线形状；如纯电阻为直线，其斜率大，阻值小；纯电容为一椭圆，椭圆的Y/X轴比例越大其容量也越大，以及我们常见的二极管、稳压管等不对称非线性PN结特征曲线等等。实际电路中提取的VI曲线必是这些典型曲线的合成。所以根据实际电路节点的VI曲线几何形状，可大致推测出该节点是哪些元件组成的；反之也可推测出某些属性节点提取的曲线的大概形状。如果比预测形状相差甚远，肯定有问题。 " VI曲线分析"还有另一个实用性：即当电路板上芯片温度异常过热，为了避免扩大故障范围，不适于加电测试时，可改用"VI曲线分析"（不加电）逐个管脚检查，能确切地定位故障点。 测试时需要注意的是当元件阻值（或阻抗）过大（R>300K，C<500PF）、过小（R<10，C>400uF）时，其曲线与开路、短路无法区分。VI曲线分析的这种局限性供您工作中参考。 　全面存储器测试 全面存储器测试可对SRAM/DRAM，PROM/EPROM存储器共1500余种； 进行在线/离线、快速/完全测试，满足不同测试需求。 对PROM/EPROM，将其中的内容读取出来，和以前电路板无故障时读出并存储在计算机中的内容相比较，不一致则说明有问题。 DRAM/SRAM，在测试期间先写入，再读出。写入内容和读出内容不一致则说明有问题。 　 快速测试 其特点是测试速度很快，用于迅速检测被测存储器是否有故障。它不遍历每个存储单元，只按一定算法取部分存储单元进行测试。完全测试 遍历每个存储单元，所以可把PROM/EPROM中的内容全部读出来，存成二进制文件，供用户复制或剖析。离线测试 对未焊接在板子上的存储器进行测试，离线测试只有完全测试。在线测试 对焊接在板子上的存储器进行测试。存储器测试的特点是时间长。完全测试一个2K容量的存储器，也比Z复杂的逻辑器件所用时间长得多。所以在线测试支持快速测试和完全测试。并且对完全测试进行了特殊处理，使得既能访问到每一个存储单元，有能保证测试安全。 存储器往往都挂在总线上，要保证在线测试准确，需用GUARD信号进行总线隔离。测试存储器所需要的时间与存储容量成正比。对一个容量1K字节的读写存储器进行完全测试（即遍历每一个存储单元），至少需要4096个测试节拍。对容量为2K、4K、8K的存储器，其测试时间分别是测1K存储器的2倍，4倍，8倍。 　 LSI分析测试 LSI测试分析与中小规模IC的测试原理有很大差别，主要不同点在于：LSI内部结构与中小规模IC不同，其输入输出逻辑关系不能直接确定。一片LSI器件的功能一般都由许多子功能组成，如CPU器件就有取数、中断、复位等，也往往有不同的使用方式，如8086就有大小模式之分。对LSI的测试就是对它的每一个子功能都用一段相应的测试码进行测试，我们称之为"子测试"，也就是说每个子测试只测一片LSI器件的一项子功能。通过好坏板上的子测试的比较情况来判断被测LSI器件是否有故障。 测试分析LSI首先要"离线学习"，以得出"参考文件"，再"离线测试"，以得出被测LSI的准确数据备用，然后"在线学习"好的被测板上的相同的LSI数据存入硬盘供日后与故障板进行比较。一片好的LSI器件，"离线测试"时应通过全部子测试，但在线时由于实际使用方式的不同，有的子功能使用，有的子功能不使用。那么好的LSI器件"在线学习"时，对其不使用的子功能（或方式），在进行"子测试"时，允许它不通过（失效）。因此这就要求先用一块好电路板，通过学习其上的LSI器件，可确定通过了哪些子测试，哪些没有通过并存入盘内，供日后对相同的、有故障的电路板做对照比较测试。如果与当时存入的那些子测试的通过情况不同，则表示该器件可能有问题。电路网络表提取及测试 　A.全面电路网络表提取 为了得到被测电路板的电路图，以便日后更好地开展维修工作，您往往希望得到被测电路板的电路图。也许您（包括许多人）已经用万用表尝试过此项工作，用测试仪的此项功能您会有重新体会。 所谓"全面"网络表提取，是指测试仪提供三种操作模式，能够处理各种元器件之间的连接关系的提取。 　 测试夹 ――― 测试夹 这种模式主要用来处理数字IC之间的网络提取。用逻辑信号来检查IC之间是否直接相连。提取速度快，工作效率高。 　 测试夹 ――― 测试探棒 这种模式主要用来处理IC和分立元器件（包括一端是可使用测试夹的IC，一端是不能使用测试夹的IC）之间的连接关系。 　 测试探棒 ――― 测试探棒 这种模式主要用来提取分立元件之间（包括不能使用测试夹的IC）的连接关系。 　 后两种模式更多地涉及到模拟器件，所以用模拟信号来检查元器件之间的连接关系。目前的测试仪在后两种模式下，能够识别约8欧姆以上电阻、3.2毫亨以上电感和400微法以下电容。B.全面电路网络测试目前的电路在线维修测试仪，其各种测试功能，都是用于检查电路板上元器件的功能性故障的。对于电路板本身的故障，比如由于断线或金属化孔不通造成的开路故障；焊接或引线毛刺造成的短路故障则无能为力。由于这类故障往往不以元器件的功能异常表现出来，而是表现为电路板网络表的改变，所以，利用从好的电路板上"学习"到的网络表，去同相应的故障板做对照检查，就能发现电路板本身的开路/短路故障。 一般而言，在维修工作中，电路板的开/短路故障相对比较少见。而在电路板的生产调试中，绝大部分故障都是这种故障。所以，网络测试功能不仅使得测试仪能够更好地应用于维修测试，而且使它能够有效地用于小批量电子产品生产中的电路板故障检测。 网络测试的使用过程和提取基本一致。比较是否有错由计算机自动完成，并将出错结果在屏幕上显示出来。完善的辅助测试功能使检测更加可靠、准确 　 真正的总线动态隔离信号测试夹接触检查自动加上拉电阻
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$n主要特点IST5700D型逻辑在线测试仪（美国）本产品可对80线以下数字集成电路进行在线测试，主机配有相应测试夹具及探笔.本品为IST5700C换代产品。产品区分5700D-2具有两个通道，可以同时接通两个不同信号源。5700D-4具有两个通道，可以同时接通两个不同信号源。主要参数适用范围： 任何逻辑电路检修，均可利用本机的"对比"功能，找出不良的原因。"对比"时要一个好的参考电路板，提供CLOCK，及RESET，以便检修有微电脑控制的板子。 功能特点：*两个及四个测试夹子（80个输入通道）可自由插拔。*连续的即时逻辑状态显示，和高速的示波器界面。*DIP，SOIC和LPCCICS界面*显著的"对比"功能 。*被选择的测试点可被存储于备用的RAM上。测试即可手动也可自动。 *即时和非即时状态下，都可进行"对比"测试。 *相同时钟脉冲下，连续复位线，可对微机主板进行故障查寻。
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$n国产HN2600DX/B电路在线维修测试仪
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n烧录器在功能上可分万用型烧录器、量产型烧录器、专用型烧录器。专用型烧录器价格，适用芯片种类较少，适合以某一种或者某一类专用芯片编程的需要，例如仅仅需要对PIC系列编程。全功能通用型一般能够涵盖几乎（不是全部）所有当前需要编程的芯片，由于设计麻烦，成本较高，限制了销量，售价极高，适合需要对很多种芯片进行编程的情况。像比如：ISD1700烧录器，他针对的是ISD1700全系统语音芯片，ISD1700烧录器又可以分为多片烧录器和单片拷贝机，还有如：PM50烧录器，PM60烧录器，ISD3340烧录器烧录器英文名为PROGRAMMER，有人叫WRITER，更早期有人叫BURNER，这种机器是用来烧录〔PROGRAM〕一种称为可烧录的IC〔PROGRAMABLE IC〕，可烧录这些IC内部的CELL〔细胞〕资料，造成不同的功能，以前的IC大部份都是固定功能的IC〔DEDICATED ID〕，所以设计者若设计一片电路板必须用上多种不同的固定功能的IC，对大量生产者需准备很多类型的IC，自从可烧录的IC出现后，设计者只要准备一种IC便可把它烧录成不同功能的IC，备料者只采购一种IC即可，备料方便，但须准备烧录器去烧录它。在可程式元件选择众多的今日，您可以轻易地将数佰万位元的程式和资料地保存在FLASH / EPROM中，或是将百来颗的传统数位元件塞进一个指甲般大小的CPLD / FPGA之中；也可以将整个微电脑化为一颗单晶片。只要研发工程师有创意就有可能在他的实验桌上，完成这件现今认为稀松平常的事。回想在微处理器刚兴起的年代，只有部份的公司有能力去开光罩，订作一个MASK ROM或是一个ASIC，其中除了费用昂贵外，还要承受著很大的风险和不少的库存压力。随著半导体厂商的推陈出新，陆续出现了可以由使用者程式化的元件，例如储存资料的非挥发性记忆体PROM、EPROM、EEPROM、FLASH EPROM…等等，容量由早期的几K bits到2002年可能供货的1 G bits。而早期只能用TTL来设计的数位电路也逐渐地被PLD所替代，由简单的PAL到现在百万GATE COUNT级CPLD / FPGA。再配和上IC烧录器厂商提供的工具日新月异，让“在桌上就可以定制IC”的美梦成真。
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nICT700是集编程器和集成电路测试仪为一体的多功能仪器。主要功能测试集成电路的好坏，识别型号，循环测试，多档电压测试。编程EPROM，串行并行EEPROM，NOVRAM，FLASH ROM，单片机编程及加密。RS232标准接口与微电脑连接传送或接收数据。缓冲区编辑功能，可对内部128K缓冲区进行修改，复制，填充，查找。测试范围TTL74，54系列CMOS40，45系列光耦合器，数码管系列单片机系列微机外围电路系列RAM，EPROM，EEPROM，FLASH ROM，NOVRAM系列其它功能网上软件免费升级测试电压选择：3。3V，5。0V，12V，15V测试脚数：DIP封装40脚，SOP封装24脚可编程容量：256K8位液晶显示体积：360X190X75MM 重量：3KG
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