产品简介:用于矿业上任何时间，地点的快速现场分析。主要应用矿山绘图、开采及矿石品位控制需要大量矿样的化学成分数据。XRF分析是全世界认可的有效快速鉴定矿石中关键矿物质成分及含量的方法。其速度、灵活性和操作简单的特点使之成为当今专业采矿专业人员、矿石贸易用户以及矿物地质学家的。 可分析从从磷矿(P)到钚矿(Pu)之间的所有83种自然矿石。 标准元素： Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti和Th等不少于25种元素； 设计特点 •重量轻、体积小、尖嘴部分设计符合人体工程学，便于测试部分难测部位或焊接点 •性能，现场无损检测，可直接接触待测矿石岩石样品表面测试，可现场确定矿石等级、元素种类 •一键式按钮设计，操作简单 •1/3机身铝合金结构，散热效果好、工作稳定 •10秒的快速开机优于同类仪器；测试速度快，在检测铬等金属能力有着优越的表现 •可以检测样品：矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质；可编辑新的矿石元素成分档案 •坚固的构造、密封超大屏幕彩色TFT显示，无LCD高原反应，防湿防尘 •稳定先进的操作系统、先进的I-smart软件，反应迅速 技术参数 【重量】基本上重量:1.4kg，上电池后:1.5kg 【尺寸(高x宽x长)】300mm x 90mm x 220mm 【激发源】射线管靶材5种可选择 金（Au）、银（Ag）、钨（W）、钽（Ta），钯（Pb） 【电压电流与功率】大功率微型X射线管40KV、100MA、4W 【滤波器】六种可选择的滤波器根据不同的实物自动调节 【探测器】高性能高分辨率Si-Pin X射线探测器 【探测器制冷温度】 Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35 【标准片】外置316标准片； 【解析度】<180
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型号:RL042684M5000直读光谱分析仪
产品概述
M5000直读光谱仪采用可编程脉冲全数字光源、高速CCD全谱采集系统、优化设计的光路等先进技术，集合光谱自校正、单火花采集技术和光谱延时采集技术，高可靠性激发台设计，为用户提供稳定、快速、准确的金属材料分析解决方案。运营成本低，安全可靠。
产品特点
台式CCD全谱直读，体积小、功能强、功耗低
兼备大型直读光谱仪的优异金属元素分析能力及小型光谱仪的方便节能特性，满足应用需求的同时大大降低运行维护成本。
能够测定金属行业需要分析的所有常规元素，分析范围广，短波段分析能力可达140 nm。
可根据需要选配相应工作曲线，增加分析元素，无需更改硬件配置，实现一机多能。
分析时仪器功率400 VA，待机平均功率100VA，节能环保。
双光室光学系统设计
波长范围140nm-680nm，可以满足更多元素的分析需求。
双光室光路设计，每个光室都采用了特殊的透镜、光栅和CCD，使光室性能达到。
全谱采集设计，谱线信息更丰富，分析元素可根据需要增减，无需更改硬件。
光学系统配备智能恒温控制系统，提供了稳定可靠的分析基础。
先进的激发光源和气路设计
可编程脉冲全数字光源，波形可任意配置，可为不同分析样品提供的分析波形，让M5000在各种应用场合都能有出色的表现。
完善的激发保护系统，让激发操作更安全；先进的激发自检功能设计，保证激发过程安全可靠。
特殊设计的激发台氩气流路，有效降低氩气消耗量，节约氩气使用成本；光学镜头免拆洗设计，减少维护工作量。
先进的单火花分析技术和光谱延时采集技术
先进的单火花检测技术，使仪器具备了酸溶物分析的能力。
光谱延时采集技术，避开了强背景，大大提高了仪器的分析性能。
完善的工厂校正曲线分析功能
先进全面的工厂校正曲线分析功能，有效降低各种因素，保证更为准确的分析。
更符合国内用户需求的可定制的工厂校正曲线分析模式，具有更广的分析适应性，为国内众多的特钢用户提供更的解决方案。
先进全面的智能算法
先进全面的智能算法，保证更为准确的分析。
全谱分析，实现更完善的扣，扣暗电流、背景和噪声的算法，极大地提高了仪器的分析能力。
专业简洁的操作软件
M5000专业软件简洁明了，方便使用的同时彰显专业的仪器分析特性。
技术参数
分析基体
Fe,Al,Cu等多种基体合金的成分分析
光学系统
帕型-龙格结构的全谱光学系统
波长范围：140nm～680nm
多个高性能CCD探测器
耐环境温度变化
分析程序
工厂校正曲线分析功能
可灵活选择分析程序
可根据用户需求扩展分析功能
样品激发台
充氩式
便于使用的样品夹具
具有电极自吹扫功能，使电极使用寿命更长、清洁电极更加容易
13 mm的激发孔径更利于样品分析
数据采集系统
高性能DSP及ARM处理器，具有超高速数据采集及控制功能
单火花采集及光谱延时采集，实现更优化元素含量测量
外置式计算机（用户自选）
高速以太网数据传输
激发光源
可编程脉冲数字光源
优化设计的控制和功率电路，完善的激发安全保护功能
为不同分析目标提供火花、电弧或组合激发波形
高能预燃技术（HEPS）
频率：100Hz～1000Hz
放电电流：400 A
分析软件
基于Windows操作系统的图形化分析软件，简洁、专业
完备的自动系统诊断功能
完善的数据库管理功能，可方便查询、汇总数据
适应的Windows操作系统
电源和环境要求
AC220V±20V，50Hz
激发功率400 VA，待机平均功率100 VA
工作温度：10°C～30°C（该温度范围内温度变化速度小于5℃/h）
工作湿度：20%～80%
尺寸
长度：702 mm
宽度：603 mm
高度：425 mm
重量：约80 kg
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光谱分析仪
来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-42684-pid-5378.html
M5000直读光谱分析仪
型号:RL042678FMS-3000光谱分析仪
技术特性 Characteristics & Specifications
◆ 测量参数：相对光谱功率分布，色品坐标，相关色温，显色指数，色容差，峰值波长，光通量等
Measure the relative spectral power distribution P(λ),chromaticity coordinate, correlative color temperature, rendering index,
color difference,peak wavelength, luminous flux, etc.
◆ 波长范围 Range of wavelength: 380~780nm
◆ 波长准确度 Accuracy of wavelength:±0.2nm
重复性 Repeatability :±0.1nm
◆ 色品坐标准确度 Accuracy of chromaticity coordinate:
±0.0003(标准A光源下 Under standard illuminator A)
◆ 光度线性 Photometry linearity:0.3%
◆ 光度准确度 Accuracy of photometry:Class A
◆ 光谱采样间隔 Spectrum sampling interval:5nm
(特殊可提供 Special order:1nm)
◆ 中英文测试报告 Report both in Chinese ａnd English
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光谱分析仪
来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-42678-pid-5378.html
FMS-3000光谱分析仪
型号:RL042687手持式XRF矿石光谱分析仪
用于矿业上任何时间，地点的快速现场分析。主要应用矿山绘图、开采及矿石品位控制需要大量矿样的化学成分数据。XRF分析是全世界认可的有效快速鉴定矿石中关键矿物质成分及含量的方法。其速度、灵活性和操作简单的特点使之成为当今专业采矿专业人员、矿石贸易用户以及矿物地质学家的。 可分析从从磷矿(P)到钚矿(Pu)之间的所有83种自然矿石。 标准元素： Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti和Th等不少于25种元素； 设计特点 •重量轻、体积小、尖嘴部分设计符合人体工程学，便于测试部分难测部位或焊接点 •性能，现场无损检测，可直接接触待测矿石岩石样品表面测试，可现场确定矿石等级、元素种类 •一键式按钮设计，操作简单 •1/3机身铝合金结构，散热效果好、工作稳定 •10秒的快速开机优于同类仪器；测试速度快，在检测铬等金属能力有着优越的表现 •可以检测样品：矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质；可编辑新的矿石元素成分档案 •坚固的构造、密封超大屏幕彩色TFT显示，无LCD高原反应，防湿防尘 •稳定先进的操作系统、先进的I-smart软件，反应迅速 技术参数 【重量】基本上重量:1.4kg，上电池后:1.5kg 【尺寸(高x宽x长)】300mm x 90mm x 220mm 【激发源】射线管靶材5种可选择 金（Au）、银（Ag）、钨（W）、钽（Ta），钯（Pb） 【电压电流与功率】大功率微型X射线管40KV、100MA、4W 【滤波器】六种可选择的滤波器根据不同的实物自动调节 【探测器】高性能高分辨率Si-Pin X射线探测器 【探测器制冷温度】 Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35 【标准片】外置316标准片； 【解析度】<180
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光谱分析仪
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手持式XRF矿石光谱分析仪
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