海门ct3000涂层测厚仪珠海非接触测厚仪珠海
- 产地：中国大陆
- 供应商：河北慧采科技有限公司
- 供应商报价：电议
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产品库
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| 型号:RL192706CMI900X荧光镀层测厚仪 | $n型号:RL192717XDLM系列射线荧光镀层厚度测试仪 | $n型号:RL192721EX-3000荧光X线膜厚计 | $n
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| $n 主要规格 | $n$n 规格描述 | |
| $n X射线激发系统 | $n$n 垂直上照式X射线光学系统 | |
| $n 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 | ||
| $n 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 | ||
| $n 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 $n 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 | ||
| $n 装备有安全防射线光闸 | ||
| $n 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | ||
| $n 准直器程控交换系统 | $n$n 多可同时装配6种规格的准直器 | |
| $n 多种规格尺寸准直器任选： $n－圆形，如4、6、8、12、20 mil等 $n－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 $n | ||
| $n 测量斑点尺寸 | $n$n 在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) | |
| $n 在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) | ||
| $n 样品室 | $n$n CMI900 | $n$n CMI950 |
| $n 样品室结构 | $n$n 开槽式样品室 | $n$n 开闭式样品室 |
| $n 样品台尺寸 | $n$n 610mm x 610mm | $n$n 300mm x 300mm |
| $n XY轴程控移动范围 | $n$n 标准：152.4 x 177.8mm $n还有5种规格任选 | $n$n 300mm x 300mm |
| $n Z轴程控移动高度 | $n$n 43.18mm | $n$n XYZ程控时，152.4mm $nXY轴手动时，269.2mm |
| $n XYZ三轴控制方式 | $n$n 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 | |
| $n 样品观察系统 | $n$n 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 | |
| $n 激光自动对焦功能 | ||
| $n 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||
| $n 计算机系统配置 | $n$n IBM计算机 $n惠普或爱普生彩色喷墨打印机 | |
| $n 分析应用软件 | $n$n 操作系统：Windows2000中文平台 $n分析软件包：SmartLink FP软件包 | |
| $n 测厚范围 | $n$n 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 | |
| $n 基本分析 $n | $n$n 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 | |
| $n 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) | ||
| $n 可检测元素范围：Ti22 – U92 | ||
| $n 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 | ||
| $n 贵金属检测，如Au karat评价 | ||
| $n 材料和合金元素分析， | ||
| $n 材料鉴别和分类检测 | ||
| $n 液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 | ||
| $n 多达4个样品的光谱同时显示和比较 | ||
| $n 元素光谱定性分析 | ||
| $n 调整和校正 | $n$n 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移 | |
| $n 测量自动化 | $n$n 鼠标激活测量模式：“Point ａnd Shoot” | |
| $n 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 | ||
| $n 测量位置预览功能 | ||
| $n 激光对焦和自动对焦功能 | ||
| $n 样品台程控 | $n$n 设定测量点 | |
| $n 连续多点测量 | ||
| $n 测量位置预览(图表显示) | ||
| $n 统计计算 | $n$n 平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 | |
| $n 数据分组、X-bar/R图表、直方图 | ||
| $n 数据库存储功能 | ||
| $n 任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 | ||
| $n 系统安全监测 | $n$n Z轴保护传感器 | |
| $n 样品室门开闭传感器 | ||
| $n 操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师 | ||
| $n 技术参数 $n 1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法； 2.原始射线从上至下； 3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至的应用：50kV，40kV或30kV； 4.标准视准器组：圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm； 5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）； 6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门； 7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件； 8.电机驱动的144mm（5.7〞）X-射线头部（X-射线管，比例及视准器）的Z轴运行； 9.试件查看用彩色摄像机 10.测量开始/结束按钮，X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。 | $n||
| $n $n 主要特点 $nFISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM®-C4成为测量大批量部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴有效地解决铜上镀镍的测量应用问题 XDLM®的特色是独特的距离修正测量方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别，简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。 与WinFTM® V.6软件及校样标准块Gold Assay结合，XDLM®作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分， 地适用于快速，非破坏性和的测量珠宝及贵金属中金的成分。 | ||
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适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化 画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离） 图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞) 测量模式用于： 单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度 和合金成分都能被测量) 能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。 可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。 通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。 可编程的应用项图标，用于快速产品选择。 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。 报告生成，数据输出 语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 菜单中的某些选择项可授权使用 | ||
