METROTOM系统 断层扫描分析技术
- 型号：METROTOM系统
- 产地：江苏 苏州市
- 供应商：苏州池瑞机电科技有限公司
- 供应商报价： 电议
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产品库
| 品Pai | 蔡司 | 型号 | METROTOM系统 |
| 类型 | 断层扫描分析技术METROTOM系统 | 测试范围 | 300*300mm |
| 测量精度 | 分辨率：0.036? |
Metrotom融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。此前只能通过损伤工件进行检测或者无法进行质量保证检测的场合，现在使用蔡司的Metrotom就可以帮忙您实现无损检测并保证高精度的测量结果。 断层扫描分析如同在工件内部测量：所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术，例如：装配检查，损伤和气孔分析，材料检验或损坏检查，如同传统的测量评估，逆向工程应用或几何比较一样可行。 重要特征 METROTOM采用了深思熟虑的设计，它的3D计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器，同时还装备了用于装夹工件的转台和移动系统。METROTOM还具有安全技术，其全防护的测量间，符合DIN 54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5mr/h外罩)。同时，它也提供了符合人体工程学的优化设计（特设的上料位置）。
蔡司的精密机械组件导轨误差补偿（CAA计算机辅助精度修正）蔡司原装转台，配有直接驱动自产的气浮轴承分辨率：0.036?Z大负载（ZX）：500N 传感器：微聚焦X射线管 高电压：10 – 225 keV电子管电流：5 – 3000 μA目标功率：320 W max.反射角：50°锥角速流发射角：30°锥角焦点尺寸：> 7 μm平板式探测器带有高敏感性的探测系统1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三维CT数字式放射性检测法，低失真率 |
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