SPECTROX2000B 金属合金元素分析仪 SPECTROX2000B X荧光光谱仪

是否提供加工定制	是	品Pai	SPECTROX
型号	SPECTROX2000B	类型	金属元素分析仪器
测试范围	Mg-U	测量时间	60S～600S
适用范围	可对各类材料成分除碳元素（C）外的其它元素进行定性及及定量分析

产品名称：能量色散X荧光分析仪产品型号：SPECTROX2000B单价咨询：产品说明 SPECTROX2000B能量色散X荧光分析仪简介 SPECTROX2000B能量色散X荧光分析仪，是2008年推出的达到世界先进水平、国内领先水平的全元素分析仪器。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外先进的半导体电制冷探测器进行探测，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。应用领域可对各类材料成分除碳元素（C）外的其它元素进行定性及及定量分析，括对其它同类仪器难以分析的Mg、Al、SI、S、P、Mm等元素也有较好的表现。1、钢铁行业：对生铁、各类铸铁、各类合金钢及炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石除碳（C）以外的各种元素成份分析。2、耐火材料及水泥行业的分析：各类耐火材料及水泥生料样品的成份分析。3、有色行业：对铝合金、不锈钢、铜合金及铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析。4、质检部门：ROSH指令中的Pb，Cd ，Cr，Hg，Br及氯素各种等成份分析。5、镀层测厚：可对金属材料及非金属材料上的所有电镀层的厚度进行准确无损测量。性能特点配置全光路真空设计；全光路辐射防护；全自动模块化控制；采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，Be(铍)窗厚200μm，靶材Rh(铑靶)，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率。综合应用FP法分析及基本参数法分析软件. 完全满足（RoHS/WEEE、玩具指令、无卤）及各类金属材料元素分析等相关管控要求。精心设计的开放性工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂原料及过程控制。采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测。高压电源：电压0V-50kV连续可调；电流O-lmA连续可调。数码显示，精度高，无故障操作。主机采用数字化面板设计，管流、管压、样品位置、真空度等参数面板直接显示，可以根据分析元素种类不同软件自动调整参数。多功能样品室样品种类：固体、粉末、液体均可，如压片无需添加任何试剂。腔内多样品座：自动控制，精确定位。腔内环境：空气或真空。真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围。2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成。可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析。自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定。专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件，进行2次开发应用。全中文Windows应用软件，操作简单。技术参数分析元素范围：Mg-U；元素含量分析范围：1ppm -99.9%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专门的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于160eV；测量范围：1－30KeV；重复性：>65%>97%(N为峰面积)；高压：5kV-40kV；管流：1μA-500μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；真空泵额定功率：550W（卤素选配）；SPECTROX2000B能量色散X荧光分析仪额定功率：50W；整机能量分辨率：160eV；检测时间：60S～600S（时间随样品而调整）；10秒钟真空度可达10-2Pa ，高真空区域10-1-10-5Pa（卤素选配）；仪器尺寸：600（W）* 570（D）* 570（H）mm；工作环境温度：温度0-40℃(建议在有空调的环境使用)；Z低检出限：Cd/Cr/Hg/Br/Pb≤5ppm,Cl≤20ppm；工作环境相对湿度：≤80%；