泰勒.霍普森 Surtronic S-16表面粗糙度仪 深圳总代理力达信
- 产地：中国大陆
- 供应商：深圳市力达信仪器有限公司
- 供应商报价：1
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产品库
1.产品特点
一个50mm长的测针升降装置和直角附件；360度任意旋转，任何方向任何高度测量；轻触快捷键即可进行所有关键设置。迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。测针还能够反方向底部测量。
2.标准配置:
显示单元;112-1502标准测针;测针连接线;多刻线样板;测针提升机构;接口充电器;使用手册;USB通讯电缆;仪器箱
3.可选附件
测试平台：00级大理石平板：400X250X70mm有效高度：280mm。可调Y轴V型铁可调范围：±5mmV型铁长度100mm
泰勒.霍普森 Surtronic S-16表面粗糙度仪 深圳总代理力达信参数规格：
| 数据显示 | 显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图） | ||
| 可以打印测试结果和图形 | |||
| 使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果 | |||
| 数据存储 | 仪器可以存储100个测试数据和一个图形 | ||
| 仪器支持U盘4G，Z多可存储39,000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。 | |||
| 使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。 | |||
| 电源： | 充电器 | USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz | |
| 充电时间 | 4小时 | ||
| 电池寿命 | 充电一次可以做2000次测试 | ||
| 待机时间 | 5000小时,由待机状态到开机测试状态，Z长时间不超过1秒I | ||
| 自动关机 | 30秒– 6小时可以自行设置 | ||
| 技术指标 | 测量范围 | 200 um 100 um 10 um | |
| 分辨率 | 100 nm 20 nm 10 nm | ||
| 底噪(Ra | 250 nm 150 nm 100 nm | ||
| 重复精度 (Ra) | 1%测试值+底噪 | ||
| 传感器原 | 电感 | ||
| 测量力 | 50-300mg | ||
| 测针针尖半径 | 标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin) | ||
| 测试方式 | 滑动扫描 | ||
| 自动软件校准 | 标准：ISO4287 | ||
| 测试参数 | 三个取样长度 | 0.25mm、0.8mm、2.5mm | |
| 二个滤波器 | 2CR、Gaussian | ||
| 评定长度 | 0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选 | ||
| 行程 | 17.5mm | ||
| 测试速度 | 测试速度 | 1mm/sec(0.04 in/sec) | |
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| 回程速度 | 1.5mm/sec(0.06in/sec) | |
| 执行标准 | ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007 | ||
| ISO标准可以测量12个参数 | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max | ||
| ASME标准可以测量11个参数 | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda | ||
| ASME标准可以测量12个参数 | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc | ||
| ASME标准可以测量13个参数 | R3z (Daimler Benz) | ||
| ASME标准可以测量14个参数
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SURTRONIC S116比SURTRONIC 25特点：
电池由碱性9V改为锂电充电电池；显示屏为触摸屏；可以显示测试图形；SURTRONIC 25只能测试10个参数，S116在不同标准下可以测量12、11、14个参数；原来SURTRONIC 25使用电位器校准测试结果，现在改为自动软件校准。方便使用；显示屏显示的结果（数据和图形）可以旋转，可以方便的从四个方向观察测试结果；仪器底部为V形，测试轴类部件方便可靠；测试数据存储增加了存储图形功能；可以使用U盘直接存储，一个4G容量U盘可存储3.9万个图形，数据可以存储70批次，每批次为10万个测试数据。
泰勒.霍普森 Surtronic S-16表面粗糙度仪 深圳总代理力达信
