TIME2510（TT210）覆层测厚仪
- 产地：中国大陆
- 供应商：亚测（上海）仪器科技有限公司
- 供应商报价：电议
- 标签：TIME2510（TT210）覆层测厚仪,物理仪器,测厚仪,供应TIME2510（TT210）覆层测厚仪,亚测（上海）仪器科技有限公司
产品库
北京时代TIME2510（TT210）覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。TIME2510（TT210）覆层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。TIME2510（TT210）覆层测厚仪符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
产品相册
产品名称：TIME2510（TT210）覆层测厚仪
产品类别：北京时代仪器
产品特点：
TIME2510（TT210）覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。 全中文菜单自动识别金属底材
自动选择测量方法－－磁性法或电涡流法
两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
五个统计量：平均值（MEAN）、值（MAX）、Z小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
可采用两种方法对仪器进行校准
存贮功能：可存贮500 个测量值
删除功能：对测量的单个或所有数据进行删除
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警
电源欠压指示
操作过程有蜂鸣声提示（单次测量方式）
错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式
采用一体化测头
参数规格：
| 测量范围 | F400：0~400μm N400：0~400μm F1：0~1250μm F1/90：0~1250μm N1：0~1250μm F10：0~10000μm CN02：10~200μm |
| 测量精度 | F400、N400测头 一点校准：±（2%+0.７）二点校准：±（1%+0.７） F1、F1/90、N1、CN02测头 一点校准：±（2%+1） 二点校准：±（1%+1） F10测头 一点校准：±（2%+10） 二点校准：±（1%+10） |
| 校准方法 | 一点校准/二点校准/基本校准 |
| 显示分辨率 | 0.1μm（测量范围小于100μm） 1μm （测量范围大于100μm） |
| 重量 | 250g（包括电池组） |
| 工作环境 | 温度：0℃~50℃ 湿度：20%～90% |
| 工作方式 | 直接方式和成组方式 |
| 测量方式 | 连续测量/单次测量 |
| 关机方式 | 手动关机/自动关机 |
| 操作提示 | 音乐铃声，错误提示 |
| 信号处理 | |
| 阈值限界 | 对限界外的测量值能自动报警 |
| 数据分析 | 可用直方图对一批测量值进行分析 |
| 统计量 | 平均值（MEAN）/标准偏差（S.DEV）/测试次数（No.）/测试值（MAX）/Z小测试值（MIN） |
| 存储 | |
| 厚度值 | 500个数据 |
| 删除 | 单个可疑数据/组内所有数据 |
| 输入输出 | |
| 打印 | 测量值、统计值、限界、直方图 |
| 通讯 | RS232/USB |
| 电源 | |
| 电池 | 商业镍氢/碱性电池 9V |
| 电源监测 | 欠压指示 |
| 标配 | 主机 1台 测头(N1或F1) 1支 标准片 4片 基体 1块 9V碱性电池 1节 使用说明书 1本 |
| 选配 | |
| 应用软件 | CTG Insight |
| 串口热敏打印 |
|
| 测头 | F400 N400 F10 CN02 F1/90 |
主机
z标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
z铝基体
z充电器
产品选型：
TA230打印机
满足标准
本仪器具备在线数据统计及实时传输功能，可通过PC端将数据直接导出或者传输，进行实时监控等功能，直接方式下自动保留的100个测量值。
成组方式下测量值自动存入内存单元，一组Z多存100个数值，总共五组，可存500个数值。当每组存满100个值时，屏幕将显示“存储器满”，此时，仍可进行测量，但是测量值只显示不存储，也不参与统计计算。只有删除该组数据，才能保存新的测量值。
3.3.3修改组中的校准值
删除组单元中的所有数据和校准值之后才能重新校准。否则将出现错误提示和鸣响报警。
3.4基本校准的修正在下述情况下，改变基本校准是有必要的:
____测头顶端被磨损。
____特殊的用途。
在测量中，如果误差明显地超出给定范围，则应对测头的特性重新进行校准称为基本校准。通过输入 6个校准值(1个零和5个厚度值)，可重新校准测头。
a)在仪器关闭的状态下按住“↑”键再按“ON/OFF”键，即进入基本校准状态；在仪器进入基本校准状态屏幕菜单区显示“基本校准”。
b)先校零值 (方法同3.3.1) 。可连续重复进行多次，以获得一个多次校准的平均值，这样做可以提高校准的准确性；
a)使用标准片校准，按厚度增加的顺序进行，一个厚度上可做多次。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上，理想的情况是2倍。
例如F1探头的校准：
首先选5个厚度的校准片分别约为：50μm、100μm、200μm、400μm、800μm。值应该接近但低于测头的测量范围。
按3.3.1的方法校零后，用厚度约为50μm的校准片在基体进行一次测量，屏幕显示＜×××µm＞。用“↑”或“↓”键修正读数，使其达到标准值。然后按顺序进行厚度约为100μm、200μm、400μm、800μm的校准片进行校准。
注意：1、即使显示结果与标准片值相符，按“↑” “↓”键也是必不可少的。
2、每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上，否则视为基本校准失败。
