供应天瑞镀层测厚仪X荧光光谱仪，贵金属检测仪

 性能特点

专业贵金属检测
内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件，与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序

技术指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA 
可测元素：Ti～U 
检测器：正比计数管 
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法 
Z轴程控移动高度 20mm

标准配置

X射线管，正比记数盒，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。

应用领域

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。