| 是否提供加工定制： | 否 | 品Pai： | 日本得樂 |
| 型号： | SM-112 | 类型： | 薄膜测厚仪 |
| 定位精度： | 0-10（mm） | 外形尺寸： | 20*30*40（mm） |
| 适用范围： | 电子产品、模具加工 | 规格： | 指针式 |
| 型号 | 目量MM | 测定范围MM | 测定力(N.gf) | 短针 | 测定子形状(上) | 测定子形状(下) |
| SM-112 | 0.01 | 10 | 2.5(250) | 有 | φ10平 | φ10平 |
| SM-112LS | Sφ3.2(1/8) | φ10平 |
| SM-112LW | Sφ3.2(1/8) | Sφ3.2(1/8) |
| SM-112-3A | φ5平 | φ5平 |
| SM-528 | 0.01 | 20 | 3.5(350) | 有 | φ10平 | φ10平 |
| SM-528LS | Sφ3.2(1/8) | φ10平 |
| SM-528LW | Sφ3.2(1/8) | Sφ3.2(1/8) |
| SM-528-3A | φ5平 | φ5平 |
| SM-114 | 0.01 | 10 | 2.5(250) | 有 | φ10平 | φ10平 |
| SM-114LS | Sφ3.2(1/8) | φ10平 |
| SM-114LW | Sφ3.2(1/8) | Sφ3.2(1/8) |
| SM-124 | 0.01 | 20 | 3.5(350) | 有 | φ10平 | φ10平 |
| SM-124LS | Sφ3.2(1/8) | φ10平 |
| SM-124LW | Sφ3.2(1/8) | Sφ3.2(1/8) |
| SM-123 | 0.01 | 20 | 3.5(350) | 有 | φ10平 | φ10平 |
| SM-130 | 0.01 | 50 | 2.2(220) | 有 | φ10平 | φ10平 |
| SM-130LS | Sφ3.2(1/8) | φ10平 |
| SM-130LW | Sφ3.2(1/8) | Sφ3.2(1/8) |
| SM-1201 | 0.001 | 10 | 1.5(150) | 有 | φ8.5平(超硬) | φ8.5平(超硬) |
| SM-1201LS | Sφ3(超硬) | Sφ8.5平(超硬) |
| SM-1201LW | Sφ3(超硬) | Sφ3(超硬) |
日本TECLOCK(得乐)量具厚薄表深度表日本TECLOCK株式会社SM-112SM-112LSSM-112LWSM-112-3ASM-528SM-528LSSM-528LWSM-528-3ASM-114SM-114LSSM-114LWSM-124SM-124LSSM-124LWSM-123SM-130 SM-130LSSM-130LW SM-1201SM-1201LSSM-1201LW
