美国深特LPDT露点仪、美国XENTAUR露点仪、深特LPDT
- 型号:LPDT
- 产地:中国大陆
- 供应商:上海微川精密仪器有限公司
- 供应商报价:电议
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美国XENTAUR露点仪原理:深特独特的HTF技术的超薄膜氧化铝电容
美国XENTAUR露点仪技术指标:
露点传感器单元:
原理:超薄的氧化铝电容原理
量程:-100℃~+20℃
准确度:±3℃
重复性:±0.5℃
温度范围:-10~+70℃
采样流速:静态到100米/秒
存储温度:-40~+80℃
显示:带有背光灯的三位半液晶显示
控制:3个按键实现功能控制
校准方法:自动校准(提供+20℃以上的饱和湿气)
输出:4~20mA模拟信号 |
温度测量
仪器可同时测量通过传感器的气样温度。
机械性能:
外壳:不锈钢
工作压力:标准34bar以内
可选340bar以内
机械连接:14mm×1.25mm和3/4” ×16螺纹
电气连接:2.1毫米插头
电缆:两线电缆
电源:10~33VDC直流电源