膜厚测试仪

CMI900 无损电镀 膜厚测试仪，镀层测厚仪 专业测量金、银 钯 銠 镍 铜 锡 等贵金属多镀层膜厚测量，快速 JZ 无损，业内广受好评，客户应

用广泛在 五金 连接器 PCB  LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系 测量量样品 洽谈往来 本公司经营多年工程师经验丰富，商业合作个方式灵活。

金属镀层厚度测量， 例如Zn；Cr；  Cu；  Ag；  Au；Sn等  合金（两样金属元素）镀层厚度测量，  例如：  SnPb；  ZnNi；  及NiP（无电浸镍）在Fe上等
合金（三檬金属元素）镀层厚度测量，  例如：  AuCuCd在Ni上等
双镀层厚度测量，  例如：Au／Ni在Cu  上；  Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等
双镀层厚度测量（其中一层是合金层），  例如：  SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等
三镀层，  例如：  Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上

PCB LED 连接器等行业 gold flash/ Nip / Cu 或  Au / Pdni / Cu 
~~  Ag / Ni / Cu / Ni  / Cu  等常见应用

仪器介绍
CMI 900  系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层  厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域

，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于WindowsXP
中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900主机的全面自动化控制，
 PCB 五金 LED 连接器 表面处理等行业
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业
A  CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定Z多5层、15 种元素。
B ：精确度领先于世界，精确到0。025um  （相对与标准片）
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、值、Z小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X

-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，Z小可达0.025 x 0.051毫米
牛津仪器CMI900电镀膜厚测量仪