CST-50冲击试样缺口投影仪（夏比投影仪）
一、 产品简介：
冲击试样缺口投影仪（夏比投影仪）是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。冲击试样缺口投影仪（夏比投影仪）是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，操作简便，检查对比直观、效率高，是目前WY切实可行、并能保证检查质量的方法，是相关理化试验室的必备仪器。
二、 主要技术指标：
1、放大倍数：50×
2、投影屏尺寸：200×200mm
3、工作台位移：纵向±10mm，横向±10mm，升降±12mm（无刻度）
4、工作台转动范围：0～360о（无刻度）
5、光源：卤钨灯12V 100W
6、电源：220V 50HZ 150W
7、外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）
