平面平晶平面度检测仪(纳光灯箱)
- 型号:KT-VIII 100
- 产地:中国大陆
- 供应商:宁波健坤测控设备有限公司
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平面平晶平面度检测仪(纳光灯箱)
检测时,将被测平面紧贴于平晶。两个表面都必须仔细擦净,使两表面之间可以形成一层极薄的空气膜。打开钠光灯,光束从光源发出,按一定角度投射入平晶。单色光源透平空气膜,就会产生明暗相间的干涉条纹。如果使用白光(自然光)作为光源,则显示出几种颜色的干涉条纹。一个光干涉带等于光波的半个波长,可用干涉条纹判别试件的平面度偏差。
*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。