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平面平晶平面度检测仪(纳光灯箱)

产品信息
平面平晶平面度检测仪(纳光灯箱)平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。



平面平晶平面度检测仪(纳光灯箱)

检测时,将被测平面紧贴于平晶。两个表面都必须仔细擦净,使两表面之间可以形成一层极薄的空气膜。打开钠光灯,光束从光源发出,按一定角度投射入平晶。单色光源透平空气膜,就会产生明暗相间的干涉条纹。如果使用白光自然光作为光源,则显示出几种颜色的干涉条纹。一个光干涉带等于光波的半个波长,可用干涉条纹判别试件的平面度偏差。

*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。

 

 

 


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