CMI900镀层测厚仪

产品信息

CMI900X荧光镀层测厚仪应用CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。行业用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。

CMI-900X荧光镀层厚度测量仪

CMI-900X荧光镀层厚度测量仪技术参数

主要规格规格描述

X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准

75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

准直器程控交换系统 Z多可同时装配6种规格的准直器

多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，Z小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055mm

（使用0.025 x 0.05 mm准直器）

在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm

（使用0.3mm准直器）

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