光纤耦合UV/NIR增强PDA阵列光谱仪
- 型号：BRC741E
- 产地：美国
- 供应商：必达泰克光电科技（上海）有限公司
- 供应商报价：电议
- 标签：光纤耦合UV/NIR增强PDA阵列光谱仪,分析仪器,光谱仪器,供应光纤耦合UV/NIR增强PDA阵列光谱仪,必达泰克光电科技（上海）有限公司
产品库
光纤耦合UV / NIR增强PDA阵列光谱仪主要特点
· 很高的动态范围
· 在UV或NIR段具有增强的量子效应
· 平场凹面全息光栅
· 低杂散光
· 可分离光纤束选项
· 16位数位转换器
· USB 2.0高速数据接口
光纤耦合UV / NIR增强PDA阵列光谱仪主要应用
· 紫外－可见光应用
· 可见－短波近红外检测
· GX液相色谱检测
· LED，LCD和其他显示设备检测
· 颜色测试
· 微光差检测
光纤耦合UV / NIR增强PDA阵列光谱仪技术特征
| 光学入口 | 选项1 单束光纤 | 芯径:200um ; NA:0.22 单束光纤，狭缝宽50um |
| 选项2 光纤束 | 输入：芯径:400um ; NA:0.22 输出：线性 100um×1250um | |
| 接口：SMA905 | ||
| 选项3 自由空间 | 自由空间 狭缝宽10-300um；NA:0.18 | |
| 光栅 | 平场、象差校正、凹面、全息 | |
| 176.8L/mm或者402 L/mm（ZX） | ||
| 光谱范围 | 320nm-1040nm或190nm－800nm | |
| 检测器谱宽 | 12.7mm或25mm | |
| 谱分辨率 | 0.9nm@50μm狭缝 | |
| Z小积分时间 | 1ms | |
| 波长精确度 | 0.3nm | |
| 杂散光 | <0.20%@800nm , 钨灯 | |
| 光学分辨率 | 4nm FWHM | |
| A/D分辨率 | 16 bit | |
| 检测器 | 512元（默认），象元25μm×2500μm | |
| 输入电压 | 5V DC@<2A （功率4－5W） | |
| 计算机接口 | USB1.1/2.0 | |
| 尺寸 | 164.7（长）×103（宽）×69mm（高） | |
| 重量 | 5 kg | |
