XPE,XSE,XS 梅特勒超越系列天平（XPE,XSE,XS分析天平）
- 型号：XPE,XSE,XS
- 产地：上海
- 供应商：成都特思特仪器有限公司
- 供应商报价：面议
- 标签：梅特勒超越系列天平（XPE,XSE,XS分析天平）,-1,成都特思特仪器有限公司
产品库
| 品牌 | 梅特勒-托利多 |
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一 XPE分析天平
1产品简介
XPE 天平提供出色的分析称量性能，并满足至高的安全性、效率且易于合规。
技术参数
量程为 520 g，可读性为 0.005 mg/0.1 mg
独特性能
USP41 的Z小称量值可降至 10 mg
无需接触天平的操作
称量、皮重、开/关门 — 无污染、无需手动操作
自动数据处理
SOP 用户指南、自动文档记录可满足过程可追溯性要求
易于清洁
快速拆除防风罩；可在洗碗机中安全清洗
限度地减少静电荷
自动静电检测，紧凑式离子发生器
轻松满足法规
StatusLight™：天平水平，测试已完成，可随时称量
2产品型号
（电子天平XPE105，XPE105DR电子天平，电子天平XPE204，电子天平XPE205，电子天平XPE205DR,电子天平XPE206DR,电子天平XPE304,电子天平XPE504,电子天平XPE504DR）
3产品参数（XPE105）秤量 | 120 g |
可读性 | 0.01 mg |
重复性（校验砝码） | 0.015 mg (5 g) |
Z小称量值（USP, 0.1%，典型值) | 14 mg |
校正 | 内部 / proFACT 高级版 |
自动Z小称量值(USP)，典型值 | 10 mg |
秤盘外形尺寸(宽x深) | 73 mm x 78 mm |
合法交易 | No |
稳定时间 | 2.5 s |
重复性（典型） | 7 µg |
线性误差（典型值）± | 0.1 mg |
尺寸 | 487 mm |
尺寸 (高x宽) | 322 mm x 263 mm |
二 XSE分析天平
1产品简介
适用于多个工作场所的解决方案：出色的称量性能，直观的操作和无缝过程。
技术参数
量程为 220g，可读性为 0.01mg/0.1mg
至高性能
带有网格秤盘的独特称量传感器设计
直观的操作
触摸屏，个性化设置，称量指南
自动数据处理
SOP 用户指南、自动文档记录可满足过程可追溯性要求
独特的清洁流程
快速拆卸防风罩，可在洗碗机中安全清洗
天平管理应用程序
状态指示灯™：天平水平，测试已完成，可随时称量
2产品型号
（电子天平XSE105DU，XSE205DU 分析天平，电子天平XSE104，电子天平XSE204）3产品参数（XSE105DU）秤量 | 41 g/120 g |
可读性 | 0.01 mg; 0.1 mg |
重复性（校验砝码） | 0.02 mg (5 g) |
Z小称量值 (USP)，典型值 | 20 mg |
校正 | 内部 / proFACT 高级版 |
秤盘外形尺寸(宽x深) | 73 mm x 78 mm |
合法交易 | No |
稳定时间 | 1.5 s |
重复性（典型） | 0.01 mg |
线性误差（典型值）± | 0.2 mg |
尺寸 (高x宽) | 322 mm x 263 mm |
外壳 | 压铸铝合金 |
三 XS分析天平
1产品简介
快速、高性能天平，实现至高生产率
技术数据
量程高达 220g，可读性为 0.01mg/0.1mg
精确的结果
高速单模块传感器，配合全自动内部校准
直观的操作
触摸屏，称量指南，个性化设置
无缝过程
LabX：自动化数据处理，SOP（标准操作程序）指南
自动数据处理
SOP 用户指南、自动文档记录可满足过程可追溯性要求
2产品型号
（电子天平 XS104，电子天平 XS105DU，电子天平 XS204，电子天平 XS204DR，电子天平 XS205DU，电子天平 XS64）3产品参数（XS104）
秤量 | 120 g |
可读性 | 0.1 mg |
重复性（校验砝码） | 0.07 mg (5 g) |
Z小称量值 (USP)，典型值 | 82 mg |
校正 | 内部/ FACT |
秤盘外形尺寸(宽x深) | 73 mm x 78 mm |
合法交易 | No |
稳定时间 | 1.5 s |
重复性（典型） | 0.04 mg |
线性误差（典型值）± | 0.2 mg |
尺寸 (高x宽) | 322 mm x 263 mm |
