KeithleyS540 KeithleyS540参数化测试系统

KeithleyS540参数化测试系统

• 在单次探头触摸中自动在多达 48 个引脚上执行所有晶片级参数测试，包括高电压击穿、电容和低电压测量，而无需更改电缆或探头卡基础设施
• 在达 3kV 的条件下执行晶体管电容测量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而无需手动配置测试引脚
• 在高速、多引脚、全自动测试环境中实现低电平测量性能
• 基于 Linux 的 Keithley 测试环境 (KTE) 系统软件支持轻松进行测试开发和快速执行
• 非常适合于过程集成、过程控制监控和生产芯片分类中的全自动或半自动应用
• 通过CHENG度减少测试时间、测试设置时间和占地面积，降低拥有成本，同时实现实验室级测量性能

• S46-18 Z多为 32 非端接继电器，包括 18、26.5 和 40GHz GPIB 全机架，2U

  S46T-18 Z多为 32 端接继电器，包括 18 和 26.5GHz GPIB 全机架，2U

  "4200A-SCS-PK1 

  高分辨率 IV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率 

  对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括：

  4200A-SCS 参数分析仪

  (2) 4200-SMU 模块

  (1) 4200-PA 前置放大器

  (1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

  "4200A-SCS-PK2 

  高分辨率 IV 和 CV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 

  对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

  4200A-SCS 参数分析仪

  (2) 4200-SMU 模块

  (1) 4200-PA 前置放大器

  (1) 4210-CVU 电容-电压模块

  (1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

  "4200A-SCS-PK3 

  KeithleyS540参数化测试系统高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件" "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 

  对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

  4200A-SCS 参数分析仪

  (2) 4200-SMU 模块

  (2) 4210-SMU

  (1) 4200-PA 前置放大器

  (1) 4210-CVU 电容-电压模块

  (1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

  "4200-BTI-A 

  超快 NBTI/PBTI 套件" "用于使用 CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括：

  (1) 4225-PMU 超快 I-V 模块

  (2) 4225-RPM 远程前置放大器/开关模块

  自动化检定套件 (ACS) 软件

  超快 BTI 测试项目模块

  电缆"

  2600-PCT-1B 低功率 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A - US $26,600

  2600-PCT-2B 高电流 200 V/10 A 200 V/10 A 40 V/50 A 40 V/50 A - US $45,300

  2600-PCT-3B 高压 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 200 V/10 A 200 V/10 A - US $52,600

  2600-PCT-4B 高电流和高电压 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 40 V/50 A 40 V/50 A - US $71,400

  S500 - 配置与报价

  S530. - 配置与报价

  S535 - 配置与报价

  S540 - 配置与报价