KeithleyS535 KeithleyS535参数化测试系统

KeithleyS535参数化测试系统

• 在多站点并行或连续运行中自动执行所有晶片级直流参数测试。触摸一次探头测试两个或四个站点。
• 多达 64 根测试针：并行测试四个站点，每个站点 16 根针；并行测试两个站点，每个站点 32 根针；连续测试一个站点，64 根针
• 高达 100 W 运行：1 A 时 100 V；100 mA 时 200 V
• 在高速、多针、完全自动的测试环境中 1 fA、10 nV 分辨率
• 基于 Linux 的 Keithley 测试环境 (KTE) 系统软件兼容原有 Keithley 测试系统、支持轻松进行测试开发和快速执行。
• Keithley S530 型探头卡基础设施也支持原有的 S400 应用KeithleyS535参数化测试系统

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