InSEM®HT 纳米压痕仪

InSEM^®HT纳米压痕仪

InSEM^®HT纳米压痕仪（高温）通过在真空环境中分别独立加热压头和样品以测量高温下的硬度、模量和刚度。 InSEM HT与扫描电子显微镜（SEM）和聚焦离子束（FIB）工作室，或独立的真空工作室兼容。 配有的InView软件可帮助高级研究人员开发新的实验。科学出版文献表明，InSEM HT结果与传统的大规模高温测试数据匹配良好。测试温度范围宽以及拥有成本低的特点使InSEM HT成为材料开发研究计划中很有价值的设备。

InSEM HT高温测试系统可在真空环境中对压头和样品分别独立进行加热，并与许多SEM/FIB工作室或独立真空工作室兼容。 系统温度可高达800°C，因而可以模拟现场极端温度条件，以获得可靠一致的测试数据。钼支架上的单晶碳化钨压头经过优化，可用于高温测试应用，并可提供多种几何形状。

·       InForce 50驱动器，压头可加热，用于电容位移测量，并配有电磁启动的可互换探头

·       样品可升温至800^°C，采用10mm样品尺寸和真空兼容的样品安装系统

·       InQuest高速控制器电子设备，具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数

·       用于样本定位的XYZ移动系统

·       SEM视频捕获，可以将SEM图像和测试数据进行同步

·       独特的软件集成压头校准系统，可实现快速，准确的压头校准

·       与Windows^®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能

·       高温测试

·       硬度和模量测量（Oliver-Pharr）

·       连续刚度测量

·       高速材料性质分布

·       蠕变测量

·       应变率灵敏度

·       大学、研究实验室和研究所

·       航空航天

·       汽车制造业

·       硬涂层

·       核能

·       军事/国防