COMPACT COMPACT镀层测厚仪
- 型号：COMPACT
- 供应商：广州标德仪器有限公司
- 供应商报价：面议
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产品库
| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
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| 应用领域 | 电子/电气/通讯/半导体,钢铁/金属,汽车及零部件 |
COMPACT镀层测厚仪
镀层测厚仪COMPACT系列，广泛应用于PCB、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析及镀液分析；是中、小电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。
镀层测厚仪COMPACT系列具有超高性价比，有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量JZ、测量时间短等特点；具有高生产力、高再现性，能有效控制产品质量，节约电镀成本。
仪器参数
型号 | COMPACT Eco | COMPACT Eco PIN | 备注 |
测量元素范围 | Ti22---U92 |
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镀层和成分分析 | Ø 镀层：Z多同时测定5层（4层镀层+基体材料） Ø 成分：Z多同时测量20种元素 |
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测量方法 | Ø FP（经验数据法），无需标准样片 |
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X射线激发 | Ø 50Kv、1.2mA(60W)高压发生器 Ø 微聚焦W靶X射线管 |
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成像系统 | Ø 彩系统 Ø 20倍放大倍数 Ø 被测样品图像实时显示功能 Ø 电脑显示屏具有画中画功能 |
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计算机系统 | Ø Inter Pentium G2030，内存2G，硬盘500G Ø 17吋液晶彩色显示器 Ø MicrosoftTM Win7 32bit |
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样品台规格 | Ø 240×240mm样品台 Ø 承重5Kg |
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仪器外形 | 长×宽×高400×600×400mm（不含电脑、显示器） |
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样品 | 长×宽×高380×370×100mm |
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程控Z轴移动距离 | ≤60mm |
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主机重量 | 41Kg（不含电脑、显示器） |
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单准直器规格 | Ø0.3、Ø0.5mm | Ø Ø0.1、Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5mm Ø 0.1×0.3mm | 仅配单准直器 |
探测器 | 正比例计数器 | Ø 25mm2半导体（Si-PIN）探测器，Peltier电制冷 Ø 能量分辨率约270eV |
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软件模块可选 | μ-Master用于镀层测量 Element--Master用于材料分析 %-Master用于材料分析（珠宝） Report-Master用于微软报告文件 Data-Master用于数据库管理 Liquid-Master用于电镀液分析 |
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产地 | 德国 |
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COMPACT镀层测厚仪
