38DL PLUS超声波测厚仪奥林巴斯一级代理
- 供应商:上海艾因蒂克实业有限公司
- 供应商报价:面议
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品牌 | OLYMPUS/奥林巴斯 | 价格区间 | 2万-5万 |
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38DL PLUS超声波测厚仪奥林巴斯一级代理销售维修
测量腐蚀管道,测玻璃钢,测量橡胶轮胎,测量金属材料,测量压力容器,测量化工高温管道。氧化层测厚,多层测厚。
测量 | 双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的精确延时到个回波之间的时间间隔。 |
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穿透涂层测量模式 | 利用单个底面回波(使用D7906-SM和D7908探头),测量金属的实际厚度和涂层厚度。 | |
穿透漆层回波到回波测量模式 | 在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。 | |
单晶探头测量模式 | 模式1:激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。 模式2:延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。 模式3:在激励脉冲之后,位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。 氧化层模式:可选。 多层模式:可选。 | |
厚度范围 | 0.080毫米~635.00毫米,视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。 | |
材料声速范围 | 0.508 mm/μs~13.998 mm/μs | |
分辨率(可选择) | 低分辨率:0.1毫米 标准分辨率:0.01毫米 高分辨率(可选项):0.001毫米 | |
探头频率范围 | 标准:2.0 MHz~30 MHz(-3 dB) 高穿透(可选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) | |
一般规格 | 工作温度范围 | -10°C~50°C |
键区 | 密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈。 | |
机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳;机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 | |
外型尺寸(宽 x 高 x 厚) | 总体尺寸:125毫米x211毫米x46毫米 | |
重量 | 0.814公斤 | |
电源 | AC/DC适配器,24 V;锂离子电池,23.760 Wh;或4节AA辅助电池。 | |
锂离子电池供电时间 | 工作时间:Z少12.6小时,一般14小时,Z多14.7小时。快速充电:2小时到3小时。 | |
标准 | 设计符合EN15317标准。 | |
显示 | 彩色透反VGA显示 | 液晶显示,显示屏尺寸:56.16毫米 X 74.88毫米 |
检波 | 全波、RF波、正半波、负半波 | |
输入/输出 | USB | 1.0从接口。 |
RS-232 | 有。 | |
存储卡 | 容量:2 GB外置microSD存储卡。 | |
视频输出 | VGA输出标准。 | |
内置数据记录器 | 数据记录器 | 38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
容量 | 475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形。 | |
文件名称、ID编码及注释 | 32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码,每个位有四个注释。 | |
文件结构 | 9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。 | |
报告 | 机载报告总结了数据统计、带有位置信息的Z小值/值、Z小值回顾、文件比较及报警报告。 |
38DLP-OXIDE (U8147014):使用编码激活的内部氧化层测量软件。
38DLP-HR (U8147015):使用编码激活的高分辨率测量软件。
38DLP-MM (U8147016):使用编码激活的多层测量软件。
38DLP-HP (U8147017):使用编码激活的高穿透(低频)测量软件。
38DLP/EW (U8778348):3年保修。
1/2XA/E110 (U8767104):用于E110-SB EMAT探头的滤波器适配器。
38-9F6 (U8840167):RS-232线缆
38-C-USB-IP67 (U8800998):USB线缆,用于符合IP67标准的密封操作。
38DLP/RFS (U8780288):脚踏开关,厂内安装。
HPV/C (U8780124):数字式卡尺线缆,用于在测量声速时进行厚度输入。
38DLP-V-CC (U8840172): 数字式卡尺线缆。
EPLTC-C-VGA-6 (U8840035):VGA输出线缆。
MICROSD-ADP-2GB (U8779307):2 GB外置microSD存储卡。
38DL PLUS超声波测厚仪奥林巴斯一级代理销售维修
我司销售工业X射线探伤机,万睿视(Varex)平板探测器(DR-PaxScan® 1515DXT平板探测器、DR-PaxScan®2520DX平板探测器、DR-PaxScan®2530HE平板探测器、DR-PaxScan® 1313DX平板探测器、DR-PaxScan®2530DX平板探测器、DR-PaxScan® 1308DXT平板探测器、DR-PaxScan®1308DX平板探测器)及球管。
超声波探伤仪(复合材料粘接检测仪BondMaster 1000e+、超声探伤仪EPOCH XT、超声探伤仪EPOCH 600、超声探伤仪EPOCH LTC、超声波TOFD相控阵OmniScan MX2、超声波TOFD相控阵Ominscan SX、超声探伤仪EPOCH 1000系列、超声波点焊检测系统USLT USB、超声波探伤仪USN60、超声波探伤仪USM 36、便携式超声波探伤仪USMgo+)、
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测厚仪(MAGNA-MIKE 8600霍尔效应测厚仪、新型45MG超声波测厚仪、高级多功能超声波测厚仪38DL PLUS、经济型超声波测厚仪27MG、35RDC复合材料粘接检测仪、便携式MG2系列腐蚀测厚仪、超声波测厚仪DM5E、精密测厚仪CL5),
光谱仪(Vanta手持式XRF分析仪、DELTA Professional合金分析仪、DELTA Element分析仪),
工业视频内窥镜(EFER FLASH 900、 IPLEX NX、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS)、紫外荧光内窥镜、磁粉探伤机、反差增强剂,渗透剂等,
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