XR-100CR 系统X射线及γ探测系统

XR-100CR 系统X射线及γ探测系统特点：

149eV的分辨率，全固态无液氮设计 

SI-PIN光敏二极管，二级热电冷却器 

内置温度控制监测检测器，密封的铍检测窗 

检测范围广，操作简单

XR-100SDD 

高计数率——5000，000 CPS 

对峰值5.9keV的分辨率为139eV 

High Peak-to-Background Ratio - 6500:1 

规格为：7 mm2 * 500 µm 

无液氮

XR-100CdTe 

CdTe二极管探测器，热电冷却器（Peltier） 

FET冷却，温度***器 

铍检测窗，密封包装（TO-8）

XR-100CR 系统X射线及γ探测系统是一个新型GX的X-射线探测器、前置放大器，在致冷系统中用热电冷却原理Si-PIN光电二极管作为X-射线探测器。而在2-stage 致冷机中则用到输入FET 和一个新颖的反馈电路。这套系统被保持在大约-55°C的环境下，由一个内部温度传感器对其进行监测。探测器的密封TO-8 包裹以一个光线、真空密封的稀薄的铍窗口来实现软X-射线探测。XR-100T-CdTe 代表在X-射线探测器技术的一个突破，可提供"现成的"结果，而以前则只能从昂贵的低温冷却系统得到。另外XR-100T-CdTe还适用于伽马射线的测量。 

AXAS 系统 

AXAS系统集成了记录计数率在1.000.000 计数/s以上的超快MCA和SDD （硅漂泊二极管）。利用MCDWIN MCA 软件，AXASMCA可以成为非常小的完全分光计，从而使获取光谱变得很容易。它还可以通过USB接口读取数据，因此该系统可以通过便携式计算机在任何地点工作。