PVA SAM300 超声波扫描显微镜

超声波扫描显微镜的主要用途：
（1）材料的密度及晶格组织分布
（2）材料内部的裂纹
（3）材料内部分层缺陷，夹杂物等
（4）材料的杂质颗粒，夹杂物，沉淀物等
（5）材料的空洞，气泡，间隙等
超声波扫描显微镜的应用领域：
（1）在半导体及太阳能晶锭材料上的应用：分析晶锭内部缺陷等。
（2）在半导体Wafer和太阳能晶圆上的应用：涂覆后和印刷后晶圆片上的分层缺陷等。
（3）在半导体封装检测上的应用：塑封层、芯片顶部、芯片粘接层、导线框、BGA 样品以及Flip Chip Underfill 上的分层缺陷等。
（4）在SMT贴装电路器件上的应用
贴装后的MLF器件检测的ZD是金线周围、基底和引出线之间的的分层缺陷，检测SMD贴片电容的内部缺陷等。
（5）在MEMS器件上的应用：晶圆键合的超声检测。
（6）在其他工业产品上的应用：钻头材料焊接面的结合情况，电池密封性的超声检测。
（7）在材料科学领域的应用：镀层界面、铬合金镀层界面、镀膜层界面、多碳合金的超声金相分析、材料的硬度分析、材料内部的裂纹分析、高性能陶瓷内部的裂纹分析等。
（8）在生物YL研究领域的应用：活体细胞组织裂变过程，不同活体细胞组织裂变过程，骨骼切片的超声图像等。