日本日置HiokiC计3506-10

测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

●模拟测量时间的高速测量0.6 ms（1 MHz） ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中，可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

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  C计
  3506-10

  测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

  ●模拟测量时间的高速测量0.6 ms（1 MHz） ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中，可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

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  C计
  3506-10

  测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

  ●模拟测量时间的高速测量0.6 ms（1 MHz） ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中，可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

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  C计
  3506-10

  测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

  ●模拟测量时间的高速测量0.6 ms（1 MHz） ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中，可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

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