JEOL JEM-2800 场发射透射电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)推出了一款特殊设计的产品即JEOL JEM-2800 场发射透射电子显微镜，在兼顾高分辨高稳定性的同时，Z求分析效率的化和操作的自动化。

JEOL JEM-2800 场发射透射电子显微镜技术参数：

1. 点分辨率：0.21nm；

2. 晶格分辨率：0.1nm;

3. STEM 分辨率：0.16nm；

4. 二次电子分辨率：0.5nm；

5放大倍数：高达2,000,000

6. 能谱：可以安装两个超级能谱

7. 洛伦兹模式：标配

自成立以来，我们和Bruker、FEI、Leica、Agilent、Perkin  Elmer、Shimadzu等公司建立了良好的关系，并以完善到位的专业化售前、售中和售后服务赢得了广大客户的信赖和好评。公司致力于追求客户价值的化，争取推动的Z前沿技术和产品的运用，成为世界同类先进产品设备制造商的代理和服务商。