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M|瑞士梅特勒托利多 梅特勒MS105/MS105DU/MS205DU微量分析天平

产品信息
品牌 其他品牌 产地类别 进口
仪器量程 100-200g 仪器精度 十万分之一克
价格区间 面议 仪器种类 超微量天平

瑞士品质称梅特勒MS105/MS105DU/MS205DU微量分析天平

重的便捷性— MS半微量天平

带有两个内部校准砝码的瑞士高精度称重传感器确保获得精确可靠的结果。精巧的ErgoDoor防风罩可大大节省时间:可同时用一只手打开门,用另一只手放置样品。天平的智能设计可为您的实验室节省至多30%的工作空间。

 

单模块传感器和内部校准梅特勒半微量电子分析

单模块传感器和内部校准

公认的高性能单模块称重传感器保证长久的使用寿命,而FACT(全自动时间及温度自行校准)自动校准天平。半微量天平使用HRT传感器实现更高的称量性能。

 

操作GX梅特勒半微量电子分析
 

操作GX

带大数字和清晰符号的高对比度显示屏(HCD)以及直观的菜单可使用户快速、轻松地操作天平。此外,三个智能键可自由设置,只需触摸一下智能键即可开始常规任务。

 

设计持久耐用

MS天平设计坚固。坚固的金属机架和加固的机身可确保您在未来多年中始终能获取值得信赖的精确结果。公认的高性能单模块称重传感器保证长久的使用寿命和极高的耐用性。

 

抗化学腐蚀梅特勒半微量电子分析

抗化学腐蚀

MS天平的外壳能够耐受包括丙酮在内的大多数化学品。标配的保护罩可防止沾污与刮蹭。

 

快速拆卸梅特勒半微量电子分析

快速拆卸

只需几个简单的步骤就可以拆卸、清洁并安装所有的带有防风罩锁定装置(QuickLock)的玻璃面板,无需借助工具,也无需移动天平。

 

的数据传输梅特勒半微量电子分析

数据传输

快速、无误的数据传输:通过RS232端口可连接至打印机或条码阅读器、通过USB端口可借助标准的USB线缆连接至PC。

 

主要技术参数:

型号

MS105

MS105DU

MS205DU

报价

42030

30840

41000

称量值

120 g

120 g

220 g

称量值 精细量程

42 g

82 g

可读性

0.01 mg

0.1 mg

0.1 mg

可读性 精细量程

0.01 mg

0.01 mg

重复性,标准差 

       (正常加载)

0.04 mg

0.08 mg

0.08 mg

重复性,标准差 

       (低加载)

0.02 mg (20 g)

重复性,精细量程,

  标准差 (正常加载)

0.03 mg

0.05 mg

重复性,精细量程,

  标准差(低加载)

0.02 mg (20 mg)

0.02 mg (20 mg)

线性误差

0.1 mg

0.15 mg

0.2 mg

灵敏度偏移

       (校验砝码)

0.4 mg (100 g)

0.4 mg (100 g)

0.8 mg (200 g)

典型值

重复性,标准差 

     (正常加载)

0.03 mg

0.06mg

0.07 mg

重复性,标准差 

        (低加载)

0.015 mg (20 g)

0.015 mg (20 g)

0.015 mg (20 g)

线性偏差 (10 克内)

0.02 mg

0.02 mg

0.02 mg

Z小样品量 

      (根据 USP)

30 mg

30 mg

30 mg

Z小样品量 

    (U=1 %, k=2)

3 mg

3 mg

3 mg

Z小样品量 OIML

1 mg

1 mg

1 mg

稳定时间

8 s

4 s

4 s

稳定时间 精细量程

8 s

8 s

天平尺寸

    (宽 x 深 x 高)

247x358x331 mm

247x358x331 mm

247x358x331 mm

秤盘外形尺寸

? 80 mm

? 80 mm

? 80 mm

防风罩的有效高度

234 mm

234 mm

234 mm

净重

6.8 kg

6.8 kg

6.8 kg

内部校正

有,FACT

有,FACT

有,FACT

常规测试砝码

OIML CarePac砝码

#11123002

100 g F2, 5 g E2

#11123002

100 g F2, 5 g E2

#11123001

200 g F2, 10 g F1

ASTM CarePac砝码

#11123102

100 g 1, 5 g 1

#11123102

100 g 1, 5 g 1

#11123101

200 g 1, 10 g 1

梅特勒MS105/MS105DU/MS205DU微量分析天平 

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