产品库

MiniTest1100 膜厚计

产品信息
MiniTest1100膜厚计的详细介绍MiniTest1100膜厚计
德国EPK(Elektrophysik)公司涂镀层测厚仪MiMiniTest1100膜厚计特点:
MiniTest1100膜厚计包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准
德国EPK(Elektrophysik)公司 涂镀层测厚仪MiniTest1100膜厚计技术特征

型号


1100


2100


3100


4100


MINITEST 存储的数据量


应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)


1


1


10


99


每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)

 
1


10


99


可用各自的日期和时间标识特性的组数

 
1


500


500


数据总量


1


10000


10000


10000


MINITEST统计计算功能


读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

 






读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

  




组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

  




组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

  




存储显示每一个应用行下的所有组内数据

   


分组打印以上显示和存储的数据和统计值

  




显示并打印测量值、打印的日期和时间

 






其他功能


设置极限值

  




连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别Z大Z小值

  




连续测量模式中测量稳定后显示读数

  




连续测量模式中显示Z小值

  



德国EPK(Elektrophysik)公司涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100可选探头参数:
所有探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

探头


量程


低端

分辨率


误差


Z小曲率半径

(凸/凹)


Z小测量

区域直径


Z小基

体厚度


探头尺寸










F05


0-500μm


0.1μm


±(1%±0.7μm)


1/5mm


3mm


0.2mm


φ15x62mm


F1.6


0-1600μm


0.1μm


±(1%±1μm)


1.5/10mm


5mm


0.5mm


φ15x62mm


F1.6/90


0-1600μm


0.1μm


±(1%±1μm)


平面/6mm


5mm


0.5mm


φ8x8x170mm


F2/90


0-2000μm


0.2μm


±(1%±1μm)


平面/6mm


5mm


0.5mm


φ8x8x170mm


F3


0-3000μm


0.2μm


±(1%±1μm)


1.5/10mm


5mm


0.5mm


φ15x62mm


F10


0-10mm


5μm


±(1%±10μm)


5/16mm


20mm


1mm


φ25x46mm


F20


0-20mm


10μm


±(1%±10μm)


10/30mm


40mm


2mm


φ40x66mm


F50


0-50mm


10μm


±(3%±50μm)


50/200mm


300mm


2mm


φ45x70mm






 


FN1.6


0-1600μm


0.1μm


±(1%±1μm)


1.5/10mm


5mm


F0.5mm/N50μm


φ15x62mm


FN1.6P


0-1600μm


0.1μm


±(1%±1μm)


平面


30mm


F0.5mm/N50μm


φ21x89mm


FN2


0-2000μm


0.2μm


±(1%±1μm)


1.5/10mm


5mm


F0.5mm/N50μm


φ15x62mm










N02


0-200μm


0.1μm


±(1%±0.5μm)


1/10mm


2mm


50μm


φ16x70mm


N.08Cr


0-80μm


0.1μm


±(1%±1μm)


2.5mm


2mm


100μm


φ15x62mm


N1.6


0-1600μm


0.1μm


±(1%±1μm)


1.5/10mm


2mm


50μm


φ15x62mm


N1.6/90


0-1600μm


0.1μm


±(1%±1μm)


平面/10mm


5mm


50μm


φ13x13x170mm


N2


0-2000μm


0.2μm


±(1%±1μm)


1.5/10mm


5mm


50μm


φ15x62mm


N2/90


0-2000μm


0.2μm


±(1%±1μm)


平面/10mm


5mm


50μm


φ13x13x170mm


N10


0-10mm


10μm


±(1%±25μm)


25/100mm


50mm


50μm


φ60x50mm


N20


0-20mm


10μm


±(1%±50μm)


25/100mm


70mm


50μm


φ65x75mm


N100


0-100mm


100μm


±(1%±0.3mm)


100mm/平面


200mm


50μm


φ126x155mm


CN02


10-200μm


0.2μm


±(1%±1μm)


平面


7mm


无限制


φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层
信息声明:本产品供应信息由仪器网为您整合,供应商为(长沙大龙仪器设备有限公司),内容包括 (MiniTest1100 膜厚计)的品牌、型号、技术参数、详细介绍等;如果您想了解更多关于 (MiniTest1100 膜厚计)的信息,请直接联系供应商,给供应商留言!
供应商产品推荐
    您可能感兴趣的产品