美国TSI 3330 美国TSI 3330型光学颗粒物粒径谱仪

仪器简介：
3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便，能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI40年气溶胶仪器设计的经验，本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统，从而得到高质量和高精度的数据。同时，TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精确性。3330不仅可以单独使用，而且还可以放入TSI的外场环境箱中在野外使用。
技术参数：

测量原则 

120°光散射和滤膜采样

浓度限制

Z高3,000个/ cm³ （3,000,000个/L）

质量浓度 

0.001-275,000 mg/m³

颗粒物粒径

检测粒径范围               0.3-10 mm 

粒径分辨率                 0.5mm时5%（符合ISO 21501-01/04）

粒径通道                   Z多16通道，用户可调

主要特点：

• 0.5微米时粒径分辨率小于5%
• 粒径通道用户可调
• 检测粒径范围：0.3-10微米，Z多16通道
• 颗粒物粒径感应范围：0.5至25 mm
• 检测浓度范围：0-3000 个 /cm³
• 彩色触摸屏，直观的用户界面
• 完全满足ISO 21501-01/04要求
• 输入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度
• 收集的采样膜可进行称重测量和化学分析
• 电池电量可供20小时的操作
• Z多可存储30000个数据
• 记录每个样品的温度和压力