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NI1101 探测器光谱/辐射响应性能测试装置

产品信息
产地类别 国产

参数:

ZX波长精度:优于±1nm;

峰值波长精度:优于±1nm;

光谱带宽测量精度:优于±0.5nm;

相对光谱响应度测量精度:优于±2 %;

非均匀性标定误差:优于±1%;

像素不均匀性测量精度:1%;

 

应用:

线/面阵/TDI 

CCD以及CMOS等阵列光电探测器的光谱

辐射响应性能测试和标定。

 

案例:

中科院新疆理化研究所

航天八院812所

西北工业大学等

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