紫外可见近红外光分光光谱仪

紫外可见近红外光分光光谱仪

• 多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱。
• 功能丰富的专用软体，可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测。
• 适用于低辉度(0.3cd/m2)，如萤光、电浆发光等微弱光以及光源、显示器量测。
• 16msec的高速光谱解析。
• 灵活坚固的光纤搭配多元的选配附件，可架设于生产线上、真空环境或嵌入于现有设备中即时性量测。

• 发光光谱测量
• 色度测量
• 透过率・反射率测量

规格 

*1 波长校正用光源对汞物理辉线之确认值
*2 可选择512ch或1024ch
*3 感度设定为Normal时

应用：

• 发光光谱分析仪系统
• 反射光谱分析仪系统
• 穿透、吸收光谱分析仪系统
• 色度光谱分析仪系统
• 光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度)
• 膜厚光谱分析仪系统
• 萤光光谱分析仪系统
• 双折射相位差光谱分析仪
• 微光学元件光谱分析仪系