FT605DP 干燥房露点仪，高精度氮气水分仪FT605DP

FT605DP台式露点仪

产品介绍:

    芯片加热：所有水分测量探头，经过一段时间工作，由于工作环境的不良（如：油污、粉尘、腐蚀气、酸碱气体等），会对探头造成伤害，引起探头测量数据漂移产生偏差。***解决的办法就是对芯片进行高温加热。一般加热在160℃以上，持续几分钟，用于蒸发芯片上的水分及油污，保证它的零位准确度。加热阶段，露点仪停止工作。经过几分钟冷却，又可进入循环测量。理论上讲温度变化与露点温度不存在关联。温度仅与相对湿度有关联，所以探头加热不影响露点温度测量。

   加热条件：我们的探头启动加热条件，当外部气体露点≤-40℃时，软件自动开启加热条件。加热温度为170 度，持续四分钟，然后进入冷却阶段约2 分钟。用于探头数据的平衡整理。为了保证探头在-40℃以上长期干燥，我们的探头温度始终恒定在30℃的环境工作（温度与露点无关），用于阻止细微的水汽与油污。所以我们有大加热170℃与小加热30℃。二者仅紧密结合，保证探头始终位于干燥环境。

技术参数：

产品图片

99.999%高纯氮气（水分2~3ppm）水分测量现场图