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TE251几何失真测试卡

产品信息
品牌 X-Rite/美国爱色丽 价格区间 面议
产地类别 进口

TE251几何失真测试卡

测试卡介绍

几何失真测试卡TE251设计用于测量数码相机的几何失真,测试卡由白色背景的黑十字架组成。

 

TE251几何失真测试卡参数:

型号

TE251

尺寸

可定制

材料

高清相纸/菲林

类型

反射式/透射式可选

比例

16:9

深圳三恩驰科技有限公司

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