Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪
- 品牌：韩国先锋测厚仪
- 供应商：上海精诚兴仪器仪表有限公司
- 供应商报价：面议
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产品库
| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 10万-20万 |
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Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪
原产地：韩国
功能及应用：测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等。
韩国Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪精度
层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±15%以内
韩国Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪测试范围
Au 0.03-4um
Ag 0.03-25um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi:0.05-20um
SnCu:0.05-20um
Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪配置
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 四种规格可选
测量样品长宽均为55cm
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒
Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪
测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等
