C测试仪 3506-10 日本日置 3506-10C测试仪

日本日置 3506-10C测试仪

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对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。

日本日置 3506-10C测试仪

▶ LCR的典型运算公式

阻抗Z由实数部分（Rs）和虚数（X）部分组成，复平面上展开的话则可以求出各参数值。以下公式是表示阻抗的关系的运算公式。

日本日置 3506-10C测试仪

▶ 等效电路模式

LCR测试仪测量被测物中流过的电流以及被测物两端的电压后再求出Z和θ。而且，L、C、R等测量参数根据Z和θ计算得出。计算测量参数值的运算公式在串联等效电路模式或并联等效电路模式中是不同的。LCR测试仪端无法判断被测物是哪一种电路模式，因此为了减小误差需要选择正确的等效电路模式。计算时假设串联等效电路模式下Cs（或Lx）和电阻成分Rs为串联连接，假设并联等效电路模式下Cp（或Lp）和电阻成分Rp为并联连接。
一般来说，测量大容量的电容或低阻抗的低阻元件（约100Ω以下）时，使用串联等效电路模式，而测量低容量的电容或高阻抗的高阻元件（约10kΩ以上）时，使用并联等效电路模式。
各等效电路模式的测量值通过计算求出，因此可以显示双方的数值，但是请注意根据被测物不同所对应的等效电路也会有差异。