GY3020晶片频率分选仪（晶片测试仪）

GY3020晶片频率分选仪（晶片测试仪）

1 概述

        GY3020晶片频率分选仪是用于测量1~45MHZ频率  范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计显示，测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。      

        1．1   使用环境:

        1.1.1   环境温度：0~40℃；

        1.1.2   相对湿度：（20~90）%；

        1.1.3   大气压强：86~106 kPa。

        1．2   安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》 中

              Ⅱ类安全仪器。

        1．3   使用电源：220V±10%，50±1Hz。

        1．4   消耗功率：小于6VA。

        1．5   外形尺寸：205mm×150mm×85mm。

        1．6   重量：2.3 kg。

GY3020晶片频率分选仪（晶片测试仪）? 

  2 技术参数 

          频率范围：1~45MHz

              频段划分：2 ~7 MHz 

                        7~15 MHz

                        15~25MHz

                        25~35MHz 

                        35~45 MHz