牛津锡Tin镀层标准片

牛津镀层标准片Tin/XX标准规格（可提供特别订制）：

CSSN4    4u” (0.10um)

CSSN10   10u” (0.25um)

CSSN20   20u” (0.50um)

CSSN40   40u” (1.00um)

CSSN80   80u” (2.00um)

CSSN200  200u” (5.00um)

CSSN400  400u” (10.0um)

CSSN800  800u” (20.0um)

CSSN1600 1600u” (40.0um)

CSSN2400 2400u” (60.0um)

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

牛津镀层标准片适用于费希尔Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、博曼BOWMAN、禾苗、纳优、天瑞、华唯等各厂PaiX-ray（X射线测厚仪）、 β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的设备。

美国牛津的所有标准片，都会对标准片进行重新鉴定，其所有证书都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院）标准或ANSI（American National Standards Institute美国国家标准学会）标准。每一片标准片都由具有资质的独立第三方出具校准证书。

英国牛津标准片，Oxford标准片，CMI标准片，测厚仪标准片，牛津校正片，又称标准箔，膜厚片，通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品PaiFischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等，国产天瑞，纳优等)。

1. 薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等，其它镀层可定制.

2. 镀层标准片：双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.

3. 合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4. 测量厚度范围：0.01~300μm.