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SM-1201 日本原装TECLOCK得乐指针测厚薄仪|SM-1201得乐测厚规

产品信息

日本TECLOCK得乐指针测厚薄仪|SM-1201得乐测厚规

特点:

得乐测厚规适用范围:用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。 

TECLOCK得乐测厚仪原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度.指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

得乐SM-1201测厚规技术参数:

1. 指式方式:指针式 

2. 测量范围:0-10mm 

3. Z小读数:0.001mm 

4. 测量深度:120mm 

5. 体积大小:(W*D*H)87*23*105mm 

6. 重量:200g

 

性能参数:

型号 

目量 (mm)

测量范围(mm)

精度(um)

测定力(N

 测定子形状(mm)

重量 (g)

SM-1201

0.001 

10

3

1.5以下

直径8.5平(超硬)

440

SM-1201LS

0.001 

10

3

1.5以下

直径3球状(超硬)

440

SM-1201LW

0.001 

10

3

1.5以下

直径3球状(超硬)

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公司:深圳市瑞都测量仪器设备有限公司

:黄女士()


公司地址:ZG广东省深圳市龙华民治街道布龙路南华侨新村利金城

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