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SEB1 GE SEB1双晶直探头

产品信息
价格区间 面议 产地类别 进口
应用领域 电子/电气/通讯/半导体,造纸/印刷/包装

GE SEB1双晶直探头-性能特征:

  • 近表分辨率

  • 与曲面和粗糙面耦合好

  • 散射噪声较小

  • 对曲面工件也能沿其轮廓进行检测

  • 欧款有侧装LEMO OO连接口,SEB..KF型MICRODOT侧装

  • 美款有固定BNC电缆

 

GE SEB1双晶直探头-技术参数:

类型

[订购号码]

a×b [mm]

f [MHz]

AB* [mm]

N [mm]

 

EB [mm]

声束形状

编号

备注

 

草图

特性带宽:65%

DA0.8G

20?

0.8

3-400

35

8

0.8-20/2

用于高衰减

类型15

特性带宽:40%

SEB1

SEB2

SEB2-0°

SEB4

SEB4-0°

21?

7×18

7×18

6×20

6×20

1

2

2

4

4

3-400

2-1000

4.5-2000

1.5-2000

4-4000

20

15

30

12

25

10

5

5

2.5

2.5

1-21/2

2-7×18

2-7×18-0

4-6×20

4-6×20-0

 

0°意味着

两个单元的

公共角度是

 

 

 

带宽

 

类型15

 

 

 

类型16

 

 

类型17

 

 应用:

  • 剩余壁厚、锈蚀、腐蚀

  • 近表缺陷检测

  • 小零件-螺钉、螺栓、销钉

  • 覆层和堆焊层

  • 粘接检测

  • 火车车轮

  • 轴、杆、方坯芯部缺陷

  • 粗晶材料

 

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