EDX-J180 XRF镀层分析仪 XRF镀层测试仪 X荧光镀层分析仪器

XRF镀层分析仪  XRF镀层测试仪  X荧光镀层分析仪器性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加JZ
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

XRF镀层分析仪  XRF镀层测试仪  X荧光镀层分析仪器技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，Z薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

XRF镀层分析仪  XRF镀层测试仪  X荧光镀层分析仪器应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。