薄膜测厚仪（技术，高精度测量）

思克测试THI-1801 薄膜测厚仪（技术，高精度测量）适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。思克测试垂询THI1801 薄膜测厚仪（技术，高精度测量）的详细信息，思克测试将为您提供高品质的包装检测仪器。

主要特点：

32位嵌入式系统控制技术

技术，扁平化设计，直观，操作方便

触摸屏操作

所有操作均可在一个平面内完成，无须进入退出操作

TFT真彩色液晶显示

接触式厚度测量

测试过程自动化完成

手动、自动双重测量模式

可采用标准厚度计量工具标定、检验

符合GB，ASTM等多种标准规定，标准接触面积、测量压力（可定制）

内嵌Z大值、Z小值、平均值、标准差等数据统计分析功能

量程可调（可根据要求定制）

配置微型打印机，可自动打印试验数据

配置标准RS232通信口，利用专业计算机软件可Z大限度地挖掘试验数据价值

可支持以太网通信，方便数据联网（选购）

可支持实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）

技术指标：

测量范围：0～2mm（常规）

          0～6mm；12mm（可选）

分 辨 率：0.1μm

测量速度：10次/min（可调）

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）

接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）

      注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

电    源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：305 mm (L)×270 mm (B)×310 mm (H)

净    重：35kg

执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

产品配置： 

标准配置：主机、触摸显示屏、微型打印机、标准量块

选 购 件：配套软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码