XRF-2000 X射线贵重金属镀层测厚仪/膜厚仪

测厚仪

膜厚仪

X射线

X射线贵重金属镀层测厚仪/膜厚仪主要应用于一般工件、线路板、五金电镀、半导体支架电镀、人造首饰、端子及电子元器件等产品的各种镀层行业的一款仪器，全自动软件操作，多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台，是一款功能强大的仪器。

现在市场上膜厚仪主要有：菲希尔（FISCHER）， 精工（SII），韩国（MicroPioneer），牛津（CMI）。国产的有：三V仪器。在测量精度和性能上，国产的基本上是没用，只能摆着看。

 膜厚仪在稳定，故障率，和精度，方面来讲，只能说菲希尔（FISCHER）韩国（MicroPioneer），牛津（CMI）这四是。市场上占有率Z大的也是这四。

四主要用于五金电镀厂，钟表，端子，连接器，TED，卫浴，线路板，及一些复杂的电镀领域，如合金镀层，二元合金，三元合金，等多元合金

菲希尔（FISCHER）占有市场的30%，在测量精度，还是仪器稳定上来说都很不错。但由于价格高昂，维修，消耗品（如标准片，一片的价格可以买其他品Pai的3片，且无法更换其他品Pai的使用）虽然仪器精度高。稳定性好。但市场主要为早期所建立。  

精工（SII）主要对应大的日资企业，软件应用，相比菲希尔要麻烦一些。它所采用的是标准曲线法，来建立测量档案。所以需要大量的厚度不一的标准块。仪器稳定性和精度也还是不错的。不过有一点。日本原装的，比上海组装的要好。现在精工所销售的。大部份是上海组装的。品质相对的来说。会差一点。售后维修也是高昂，且ZG人民也是抵制日货的。

    X射线贵重金属镀层测厚仪/膜厚仪和牛津（CMI），  而牛津（CMI）因为配置是Z低端的配置如CMI900所以价格比较低，测量数据没有四年前进口机型稳定。Z主要的是故障率太高了，更换配件的成本很高。CMI也是用标准曲线法来建立测量档案的。也需要购买标准块，虽然价格低。但后期一但出现故障要更换配件。而且在对于合金镀层，和薄金。薄镍，等一些元素的测量上，那个误差大的相当离谱。甚至测不到。

        有高中低3个款型，测试的准直器也有1-5个可选，除了对复杂的电镀领域（如金厚度为0.01um以下）的不是很准确，其他镀层都可以测试达到国际标准，主要价格方面低过菲希尔（FISCHER）， 精工（SII），牛津（CMI）许多，在每年的软件更新后和硬件的升级。也受到国内厂商的大力好评，如美的（美的顺德，武汉，重庆，合肥，芜湖，都以采购使用），比亚迪（2012投标以使用），富士康（2007年使用之今）等多个客户群。可以来电 深圳市瑞思远科技有限公司 索取使用。

XRF

韩国

微先锋

产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。 

XRF-2000 系列分为以下叁种： 

1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。 

2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。 

3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。   

X荧光

镀层

应用

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。 

行业

五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。

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