半导体高低温冲击测试箱 高低温冲击测试设备

半导体高低温冲击测试箱 高低温冲击测试设备特点：

一、体积小，价格经济，装机功率小：采用蓄冷/蓄热技术。

二、降温：蓄冷蒸发器，快速除霜，传热温差小，降温速率快；

三、耗电量低：采用：多路膨胀阀进行制冷量调节控制温度稳定。

四、使用法国泰康进口全封闭压缩机，控制器等关键配件均采用国际*品Pai的高质量产品组装；

五、GX的美国Emerson离心式油分离器，分油效率高达99%以上，确保压缩机使用寿命及制冷系统的长期稳定性使用。

六、控制器：采用日本OYO或者韩国三元工业级液晶触摸屏控制器，防水，耐振动，配置一法国施耐德为主的电器执行器件，系统全自动控制，运行可靠性高。

七、冲击试验模式多：高温、低温冲击试验、2箱区温度冲击、3箱区温度冲击试验等可一箱多用；

半导体高低温冲击测试箱 高低温冲击测试设备技术参数：

一、冲击试验箱内腔尺寸：W350×H350×D400 mm 内容积约50L或者W500×H400×D400 mm 内容积约80L

       冷热冲击范围   -40℃/-55℃/-65℃～+150℃

       恢复时间       ≤3~5min

       转换时间       ≤10s

       暴露时间       ≥30min

       温度波动度    ±0.5℃

       温度均匀度    ≤2℃

       温度偏差       ±2℃

二、关于冲击前的预冷&预热：高温室预热温度范围Z高：+60℃～+200℃

       低温室预冷Z低温度范围：0℃～-75℃

       低温运行：试验箱与低温箱连通用于低温试验时的指标：

       温度范围：-75℃～25℃；

       升降温速率：平均≥2℃/min（空载）

       总功率    总功率约：22KW ，使用电流3

       噪音       ≤70dB（A），距离箱体正前方一米远处距地面一米高时测量。

       重量       约1000kg

是一台可以做低温冲击试验的仪器，可以称为低温冲击试验仪、冲击试验低温仪、冲击试验低温箱、冲击试验低温机等名称。本仪器用来试验材料结构及复合材料，在瞬间下经低温冲击的连续环境下所能忍受的程度，即以在Z短时间内试验其因冷冲击所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括金属、光电、LED、显示器、安防产品、塑料、橡胶、电子、电器等材料，可作为工业企业或者单位研发产品时作改进的依据或参考。

安装使用条件：

      大气环境      环境温度：0℃～+35℃，相对湿度：≤85% RH；

      气压：86kPa～106kPa

      场地      设备周围留有适当的使用及维护空间，如下图所示：

      地面平整，通风良好，设备周围无强烈振动，设备周围无强电磁场影响，设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘存在。