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TDX 100 X-TECH X荧光测厚仪

产品信息

一、X-TECH荧光光谱仪的特点
 1、镭射对焦系统
 2、CCD高精度彩色摄像头
 3、FP算法,简化校正过程
 4、测量直径Z小可达到0.1mm,可供选择的准直器0.1mm,0.2mm,0.3mm

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