GDC-B系列 三箱式高低温冲击试验箱-GDC-B系列

产品特点及用途

• 适用于电工、电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料、轴承、显示屏等各种材料，在温度急剧变化环境下对产品的破坏性能试验；
• 试验箱上部为高温区，下部为低温区，试件放置在试验箱中部工作室内，高温冲击时上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环，如有需要还可以与环境温度连通，形成三箱法实验；
• 试件静止不动，避免了因试件移动带来之诸多不便；
• 中英文界面，数字显示，直观易读；
• 温度偏移修正，满足您更为准确的实验要求；
• 主要零部件采用进口件，确保试验箱具有极高的可靠性；
• 多重保护功能，确保试验箱具有极高的可靠性。

高低温冲击试验箱 执行及满足标准

• GB-2423.1 低温试验方法；
• GB-2423.2 高温试验方法；
• GB-2423.22 温度冲击试验；
• GJB150.5   温度冲击试验；
• MIL-STD-810F-503.4

高低温冲击试验箱技术参数

• 温度波动度：≤±0.5℃
• 温度偏差：≤±2℃
• 高温室升温时间：RT～200℃≤30min
• 低温室降温时间：RT～-60℃≤60min
• 温度恢复时间：≤5min
• 风  门  开  启：≤5s