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Surfix BF 铁基基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计

产品信息

Surfix BF外置探头铁基基本型测厚仪膜厚仪膜厚计

特点:
l          德国PHYNIX公司制造
l          碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
l          同屏显示            
l          可测铁基体上涂镀层
l          基体上涂层,量程1500μm
l          精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
l          有红外可接PC及打印机 
 
技术参数:
测量范围
 0-1500µm,0 - 60mils
 误差
 ±(1µm+1%读数)
分辨率
 0.1µm或小于读数的2%
显示
 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示
基体Z小面积
 5mmX5mm
基体Z小曲率
 凸面:1.5mm凹面:5mm
基体Z小厚度
 F型:0.2mm,N型:50µm
校准
 厂家校准,零校准,校准箔校准
数据接口
 红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度
 0-50/60(可选配150
电源
 两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸
 137x66x23mm
符合标准
 DINISOASTMBS
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