Surfix F 铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
- 型号：Surfix F
- 供应商：北京京海正通科技有限公司
- 供应商报价：面议
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Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪膜厚仪膜厚计
| 测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils |
| 误差 | ±（1µm+1%读数） |
| 分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
| 显示 | 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 |
| 基体Z小面积 | 5mmX5mm |
| 基体Z小曲率 | 凸面：1.5mm 凹面：5mm |
| 基体Z小厚度 | F型：0.2mm ,N型： 50µm |
| 校准 | 厂家校准，零校准，校准箔校准 |
| 数据统计（统计型） | 读数个数（Z多9999个），平均值，标准偏差，Z大值和Z小值 |
| 数据存储（统计型） | Z多200个测量数值,可单独调出 |
| 数据值（统计型） | 上下限可调,声音报警 |
| 数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
| 环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃（可选配150℃） |
| 电源 | 两节1.5伏五号碱性电池 |
| 仪器尺寸 | 137x66x23mm |
| 符合标准 | DIN，ISO，ASTM，BS |
